| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 1 绪论 | 第8-13页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究历史与现状 | 第9-11页 |
| 1.3 论文的内容与结构安排 | 第11-13页 |
| 2 综合孔径毫米波辐射计成像基本理论 | 第13-22页 |
| 2.1 综合孔径辐射计成像工作原理 | 第13-16页 |
| 2.2 综合孔径辐射计阵列优化主要参数 | 第16-17页 |
| 2.2.1 UV采样覆盖 | 第16页 |
| 2.2.2 综合孔径阵列因子 | 第16-17页 |
| 2.3 综合孔径辐射计误差模型 | 第17-20页 |
| 2.3.1 天线误差 | 第17-18页 |
| 2.3.2 接收机通道误差 | 第18-20页 |
| 2.3.3 基线误差 | 第20页 |
| 2.4 综合孔径辐射计反演成像算法 | 第20-21页 |
| 2.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 综合孔径毫米波辐射计阵列优化技术研究 | 第22-39页 |
| 3.1 引言 | 第22页 |
| 3.2 均匀栅格采样阵列形式与空间频率分布 | 第22-24页 |
| 3.3 非均匀栅格采样阵列优化技术 | 第24-31页 |
| 3.3.1 综合孔径辐射计阵列优化准则 | 第25-26页 |
| 3.3.2 圆环阵常用优化目标函数及改进目标函数 | 第26-28页 |
| 3.3.3 圆环阵改进优化算法 | 第28-31页 |
| 3.4 仿真实验 | 第31-38页 |
| 3.4.1 UV分布 | 第31-36页 |
| 3.4.2 反演成像 | 第36-38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 4 综合孔径毫米波辐射计阵元误差校正技术 | 第39-67页 |
| 4.1 引言 | 第39页 |
| 4.2 阵列输出信号模型及性能分析 | 第39-42页 |
| 4.3 现有综合孔径辐射计有源校正法 | 第42-49页 |
| 4.3.1 SSPJ法 | 第42-43页 |
| 4.3.2 SSPW法 | 第43-44页 |
| 4.3.3 误差校正效果仿真与性能缺陷分析 | 第44-49页 |
| 4.4 改进的综合孔径辐射计阵元幅相误差校正算法 | 第49-60页 |
| 4.4.1 基于Toeplitz预处理结合辅助源的阵元幅相误差校正 | 第50-52页 |
| 4.4.2 基于协方差矩阵非对角元素之差的阵元幅相误差校正 | 第52-55页 |
| 4.4.3 基于IWO-PSO算法的阵元幅相误差校正 | 第55-57页 |
| 4.4.4 误差校正效果仿真与性能分析 | 第57-60页 |
| 4.5 改进的综合孔径辐射计阵元位置误差校正算法 | 第60-65页 |
| 4.5.1 Toeplitz预处理结合特征值重构的阵元位置误差校正 | 第60-62页 |
| 4.5.2 阵元位置误差下的IWO-PSO校正方法 | 第62-63页 |
| 4.5.3 误差校正效果仿真与性能分析 | 第63-65页 |
| 4.6 本章小结 | 第65-67页 |
| 5 全文总结与展望 | 第67-69页 |
| 5.1 总结 | 第67页 |
| 5.2 展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-70页 |
| 参考文献 | 第70-75页 |
| 附录 | 第75页 |
