摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第10-16页 |
1.1 研究工作的背景与意义 | 第10-12页 |
1.2 国内外研究历史与现状 | 第12-14页 |
1.3 本文的主要贡献与创新 | 第14页 |
1.4 本论文的结构安排 | 第14-16页 |
第二章 分形维数的起源及计算 | 第16-25页 |
2.1 前言 | 第16页 |
2.2 单重分形 | 第16-21页 |
2.2.1 单重分形概述 | 第16-18页 |
2.2.2 典型的单重分形维数 | 第18-19页 |
2.2.3 盒维数的计算方法 | 第19-20页 |
2.2.4 关联维数的计算方法 | 第20-21页 |
2.3 多重分形 | 第21-23页 |
2.3.1 多重分形的定义 | 第21页 |
2.3.2 广义维数的计算方法 | 第21-23页 |
2.4 本章小结 | 第23-25页 |
第三章 单重分形与多重分形异常状态检测方法 | 第25-37页 |
3.1 前言 | 第25页 |
3.2 基于单重分形的异常状态检测方法 | 第25-30页 |
3.2.1 单重分形的诊断基理 | 第25-27页 |
3.2.2 单重分形的异常状态检测方法 | 第27-28页 |
3.2.3 设备状态区间的划分 | 第28-30页 |
3.3 基于多重分形的异常状态检测方法 | 第30-34页 |
3.3.1 多重分形的检测基理 | 第30-32页 |
3.3.2 多重分形的相关性度量 | 第32页 |
3.3.3 多重分形的检测方法 | 第32-33页 |
3.3.4 多重分形样本序列的构建 | 第33-34页 |
3.4 基于多重分形模板区分方法的改进 | 第34-35页 |
3.5 本章小结 | 第35-37页 |
第四章 矩阵式分形异常状态检测方法 | 第37-46页 |
4.1 前言 | 第37页 |
4.2 矩阵式分形异常检测机理 | 第37-38页 |
4.3 经验模态分解及应用 | 第38-39页 |
4.4 基于矩阵式分形的异常状态检测方法 | 第39-42页 |
4.4.1 矩阵式分形的相关度量 | 第39-40页 |
4.4.2 矩阵式分形异常检测方法 | 第40页 |
4.4.3 样本矩阵的构建及状态识别 | 第40-42页 |
4.5 矩阵分量信号选择 | 第42-44页 |
4.6 本章小结 | 第44-46页 |
第五章 实验结果与分析 | 第46-74页 |
5.1 实现平台 | 第46-47页 |
5.2 数据预处理模块 | 第47-48页 |
5.3 基于单重分形检测的结果 | 第48-56页 |
5.3.1 单重分形在异变检测分析中的结果 | 第48-51页 |
5.3.2 单重分形在不同测度下的结果对比 | 第51-56页 |
5.3.3 单重分形方法的优缺点 | 第56页 |
5.4 基于多重分形诊断方法的结果与分析 | 第56-64页 |
5.4.1 多重分形在异变检测点中的应用 | 第56-60页 |
5.4.2 多重分形的改进方法测试结果 | 第60-63页 |
5.4.3 多重分形方法的优缺点 | 第63-64页 |
5.5 基于矩阵式分形诊断方法的结果与分析 | 第64-72页 |
5.5.1 基于经验模态分解的矩阵式分形故障诊断方法结果及分析 | 第64-66页 |
5.5.2 矩阵分形方法针对模板数量的改进 | 第66-69页 |
5.5.3 分量信号选择后的矩阵式分形诊断结果与分析 | 第69-72页 |
5.5.4 矩阵式分形方法的优缺点 | 第72页 |
5.6 本章小结 | 第72-74页 |
第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
6.1 全文总结 | 第74-75页 |
6.2 后续展望 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |