摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-20页 |
1.1 课题背景及研究目的 | 第9-12页 |
1.1.1 密炼机负面效应分析 | 第9-10页 |
1.1.2 密炼机负面效应抑制技术分析 | 第10-12页 |
1.2 国内外研究现状及分析 | 第12-19页 |
1.2.1 电力滤波器国外发展状况 | 第12-14页 |
1.2.2 电力滤波器国内发展状况 | 第14-17页 |
1.2.3 半张量积研究现状 | 第17-19页 |
1.3 本课题的主要研究内容 | 第19-20页 |
第2章 基于半张量积分析的TAPF关键参数设计 | 第20-37页 |
2.1 基于半张量积的暂态电压稳定性分析 | 第20-26页 |
2.1.1 半张量积算法 | 第20-21页 |
2.1.2 暂态电压稳定性分析 | 第21-24页 |
2.1.3 CUEP的求解 | 第24-26页 |
2.2 TAPF关键参数设计 | 第26-33页 |
2.2.1 APF直流母线电容设计 | 第26-27页 |
2.2.2 APF连接电抗器设计 | 第27-30页 |
2.2.3 TSF滤波通道参数设计及效果分析 | 第30-33页 |
2.3 基于半张量积分析的TAPF可靠性预测 | 第33-36页 |
2.4 本章小结 | 第36-37页 |
第3章 基于稳态平衡点分析的TAPF协调控制策略 | 第37-46页 |
3.1 TAPF信号检测点效果分析 | 第37-39页 |
3.2 APF与TSF滤波时的相互影响 | 第39-41页 |
3.3 TAPF协调控制策略研究 | 第41-45页 |
3.3.1 基于稳态平衡点分类的TAPF组合模态分析 | 第42-43页 |
3.3.2 TAPF控制信号的产生 | 第43-45页 |
3.3.3 TAPF逆变电流控制 | 第45页 |
3.4 本章小结 | 第45-46页 |
第4章 基于特定次谐波检测的TAPF建模仿真分析 | 第46-60页 |
4.1 特定次谐波检测方法 | 第46-51页 |
4.1.1 瞬时无功理论简介 | 第46-47页 |
4.1.2 锁相环设计 | 第47-49页 |
4.1.3 低通滤波器设计 | 第49-51页 |
4.2 TAPF系统仿真分析 | 第51-59页 |
4.2.1 密炼机特定负载情况模拟 | 第53页 |
4.2.2 TSF单独补偿效果分析 | 第53-55页 |
4.2.3 APF与TSF同时滤除谐波仿真分析 | 第55-57页 |
4.2.4 TAPF协调控制仿真 | 第57-59页 |
4.3 本章小结 | 第59-60页 |
第5章 密炼机负面效应抑制硬件系统设计 | 第60-74页 |
5.1 系统硬件平台整体结构 | 第60-61页 |
5.2 控制电路硬件设计 | 第61-65页 |
5.2.1 信号调理电路设计 | 第61-63页 |
5.2.2 驱动电路设计 | 第63-65页 |
5.3 主电路及实验系统设计 | 第65-66页 |
5.4 软件设计 | 第66-67页 |
5.5 实验结果及分析 | 第67-73页 |
5.5.1 TSF单独作用效果分析 | 第67-68页 |
5.5.2 APF单独作用效果分析 | 第68-69页 |
5.5.3 APF与TSF同时滤波效果分析 | 第69-70页 |
5.5.4 TAPF协调控制补偿效果分析 | 第70-73页 |
5.6 本章小结 | 第73-74页 |
结论 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-80页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第80-82页 |
致谢 | 第82页 |