| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-32页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-14页 |
| 1.2 研究目的及意义 | 第14-15页 |
| 1.3 贮存可靠性的研究现状 | 第15-20页 |
| 1.3.1 自然贮存及现场贮存试验的研究现状 | 第15-16页 |
| 1.3.2 加速贮存试验的研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3.3 电子元器件长贮可靠性的影响因素 | 第17-20页 |
| 1.4 加速寿命试验技术的发展趋势及研究现状 | 第20-25页 |
| 1.4.1 加速寿命试验的优化设计概述 | 第21页 |
| 1.4.2 加速寿命试验模型的研究现状 | 第21-23页 |
| 1.4.3 加速寿命试验数据分析方法的研究现状 | 第23-25页 |
| 1.5 加速退化试验技术的发展趋势及研究现状 | 第25-28页 |
| 1.5.1 加速退化模型及评估预测方法的研究现状 | 第25-27页 |
| 1.5.2 退化试验数据分析方法的研究现状 | 第27-28页 |
| 1.6 海洋环境下的电子元器件可靠性研究现状 | 第28页 |
| 1.7 本论文课题来源及主要工作 | 第28-32页 |
| 第2章 海洋环境调研及贮存试验总体方案 | 第32-42页 |
| 2.1 我国海洋气候概况 | 第32-33页 |
| 2.2 我国海洋环境的特点 | 第33-35页 |
| 2.3 海洋环境对电子元器件贮存可靠性的影响 | 第35-38页 |
| 2.3.1 温度、湿度对电子元器件贮存可靠性的影响 | 第35-36页 |
| 2.3.2 盐雾对电子元器件贮存可靠性的影响 | 第36-37页 |
| 2.3.3 其它因素对电子元器件贮存可靠性的影响 | 第37-38页 |
| 2.3.4 综合环境因素对电子元器件贮存可靠性的影响 | 第38页 |
| 2.4 贮存试验总体方案 | 第38-40页 |
| 2.5 本章小结 | 第40-42页 |
| 第3章 实验室加速贮存试验 | 第42-78页 |
| 3.1 恒定温、湿度加速试验 | 第42-60页 |
| 3.1.1 失效敏感参数的确定 | 第42-44页 |
| 3.1.2 恒定温、湿度加速试验概况 | 第44页 |
| 3.1.3 加速试验中的晶体管性能参数测试环境 | 第44页 |
| 3.1.4 反向漏电流和电流增益的退化 | 第44-50页 |
| 3.1.5 理想因子的变化情况 | 第50-52页 |
| 3.1.6 C-V特性及势垒高度的变化情况 | 第52-55页 |
| 3.1.7 性能参数退化机理及失效分析 | 第55-60页 |
| 3.2 盐雾加速试验 | 第60-70页 |
| 3.2.1 试验概况 | 第60页 |
| 3.2.2 试验结果 | 第60-65页 |
| 3.2.3 退化及失效机理分析 | 第65-70页 |
| 3.3 综合应力加速试验 | 第70-75页 |
| 3.3.1 试验设计及概况 | 第71-72页 |
| 3.3.2 试验结果及分析 | 第72-75页 |
| 3.4 本章小结 | 第75-78页 |
| 第4章 海洋环境及陆地自然环境下的贮存试验 | 第78-94页 |
| 4.1 海洋环境下的贮存试验 | 第78-89页 |
| 4.1.1 海洋环境下的舰艇搭载试验 | 第78-84页 |
| 4.1.2 近海仓库贮存试验 | 第84-89页 |
| 4.2 陆地自然环境下仓库贮存试验 | 第89-92页 |
| 4.2.1 仓库贮存失效情况 | 第89-90页 |
| 4.2.2 失效分析 | 第90-92页 |
| 4.3 海洋环境及陆地自然环境下的贮存试验的数据分析 | 第92-93页 |
| 4.4 本章小结 | 第93-94页 |
| 第5章 晶体管长期贮存寿命的评估 | 第94-122页 |
| 5.0 引言 | 第94页 |
| 5.1 基于性能参数退化的晶体管贮存寿命评估 | 第94-103页 |
| 5.1.1 恒温、恒湿应力下基于性能参数退化的晶体管贮存寿命预测 | 第95-99页 |
| 5.1.2 理想因子和势垒高度对晶体管贮存寿命的表征 | 第99-100页 |
| 5.1.3 盐雾加速试验的数据处理 | 第100-101页 |
| 5.1.4 综合应力加速试验的数据处理 | 第101-102页 |
| 5.1.5 加速贮存试验的加速因子 | 第102-103页 |
| 5.2 基于维纳过程建模的晶体管贮存寿命预测 | 第103-110页 |
| 5.2.1 加速贮存试验中性能退化的一些基本假设 | 第104页 |
| 5.2.2 一元退化过程建模 | 第104-105页 |
| 5.2.3 多元退化过程建模 | 第105页 |
| 5.2.4 一元退化维纳过程的参数估计 | 第105-106页 |
| 5.2.5 Frank Copula参数的估计 | 第106-107页 |
| 5.2.6 晶体管贮存寿命的预测 | 第107-108页 |
| 5.2.7 维纳过程模型的验证 | 第108-110页 |
| 5.3 基于支持向量机方法的晶体管贮存寿命评估 | 第110-118页 |
| 5.3.1 支持向量机的回归原理 | 第111-112页 |
| 5.3.2 支持向量机的核函数 | 第112-113页 |
| 5.3.3 LIBSVM 工具 | 第113-114页 |
| 5.3.4 基于支持向量回归的贮存寿命评估建模和预测 | 第114-118页 |
| 5.4 几种贮存寿命评估方法的比较与分析 | 第118-120页 |
| 5.5 提高海洋环境下晶体管长贮寿命的方法和措施 | 第120-121页 |
| 5.6 本章小结 | 第121-122页 |
| 总结与展望 | 第122-126页 |
| 参考文献 | 第126-138页 |
| 攻读博士期间所发表的学术论文 | 第138-140页 |
| 致谢 | 第140-141页 |
