适于高等级TDI图像传感器的模拟累加器的研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 课题背景 | 第8-9页 |
| 1.2 TDI型图像传感器基本工作原理 | 第9页 |
| 1.3 TDI型图像传感器发展现状 | 第9-10页 |
| 1.4 选题意义 | 第10-11页 |
| 1.5 本文结构 | 第11-12页 |
| 第二章 传统模拟累加器的工作原理 | 第12-24页 |
| 2.1 TDI CIS曝光方式 | 第12-16页 |
| 2.1.1 全局曝光方式 | 第12-13页 |
| 2.1.2 列卷帘式曝光方式 | 第13-14页 |
| 2.1.3 行卷帘式曝光方式 | 第14-16页 |
| 2.2 累加方式与系统架构 | 第16-17页 |
| 2.3 累加器的结构 | 第17-23页 |
| 2.3.1 失调消除 | 第18-22页 |
| 2.3.2 电荷注入 | 第22页 |
| 2.3.3 亚阈值漏电的影响 | 第22-23页 |
| 2.4 小结 | 第23-24页 |
| 第三章 传统模拟累加器的寄生影响 | 第24-33页 |
| 3.1 影响累加器性能的关键寄生 | 第24-25页 |
| 3.2 积分阶段的影响 | 第25-28页 |
| 3.3 采样阶段的影响 | 第28-29页 |
| 3.4 仿真结果 | 第29-32页 |
| 3.5 小结 | 第32-33页 |
| 第四章 模拟累加器的改进方法 | 第33-49页 |
| 4.1 传统的解决寄生方法 | 第33-36页 |
| 4.2 去耦开关削减寄生 | 第36-39页 |
| 4.3 上极板采样补偿 | 第39-45页 |
| 4.4 正反馈电容补偿 | 第45-47页 |
| 4.5 方案选择 | 第47-48页 |
| 4.6 小结 | 第48-49页 |
| 第五章 电路设计与仿真 | 第49-66页 |
| 5.1 运放设计 | 第49-53页 |
| 5.1.1 开关电容放大器建立时间 | 第49-51页 |
| 5.1.2 闭环系统稳定性 | 第51-52页 |
| 5.1.3 运放的设计与仿真结果 | 第52-53页 |
| 5.2 时序设计 | 第53-54页 |
| 5.3 版图设计 | 第54-56页 |
| 5.4 仿真结果 | 第56-64页 |
| 5.4.1 仅采用去耦开关 | 第56-57页 |
| 5.4.2 采用去耦开关和上极板采样 | 第57-61页 |
| 5.4.3 采用去耦开关和正反馈电容 | 第61-64页 |
| 5.5 小结 | 第64-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 总结 | 第66页 |
| 6.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 发表论文和科研情况说明 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
