基于图像处理的频高图F2层描迹自动解译研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题来源及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.3 课题来源 | 第16页 |
| 1.4 论文的主要工作安排 | 第16-17页 |
| 2 电离层垂直探测及其自动判读相关知识 | 第17-31页 |
| 2.1 电离层基础知识 | 第17-23页 |
| 2.1.1 电离层的构成及其发展 | 第17-19页 |
| 2.1.2 电离层的构成及其变化特性 | 第19-21页 |
| 2.1.3 电离层的扰动及其影响因素 | 第21-23页 |
| 2.2 电离层的测量方法和原理 | 第23-28页 |
| 2.3 垂直探测频高图 | 第28-29页 |
| 2.4 本文算法流程 | 第29-30页 |
| 2.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 3 频高图的生成和预处理 | 第31-42页 |
| 3.1 频高图预处理 | 第31-39页 |
| 3.1.1 滤波去噪 | 第31-33页 |
| 3.1.2 形态学闭操作 | 第33-36页 |
| 3.1.3 阈值分割 | 第36-39页 |
| 3.2 连通分量标记 | 第39-40页 |
| 3.3 描迹区域的划分 | 第40-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 4 F 层描迹自动判读 | 第42-52页 |
| 4.1 F 层描迹介绍 | 第42-43页 |
| 4.2 F 层描迹提取 | 第43-48页 |
| 4.3 F2 层参数提取 | 第48-50页 |
| 4.4 F2 层实验结果与分析 | 第50-51页 |
| 4.4.1 实验结果 | 第50页 |
| 4.4.2 实验分析 | 第50-51页 |
| 4.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 5 总结与展望 | 第52-54页 |
| 5.1 总结 | 第52页 |
| 5.2 展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第59-60页 |
