| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-23页 |
| 1.1 选题背景与研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 整体叶盘国内外研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 整体叶盘概述 | 第12-13页 |
| 1.2.2 整体叶盘加工方法 | 第13-14页 |
| 1.2.3 整体叶盘研究现状 | 第14-15页 |
| 1.3 测量技术概述 | 第15-18页 |
| 1.3.1 测量技术分类 | 第15-16页 |
| 1.3.2 整体叶盘测量方法 | 第16-18页 |
| 1.4 测量路径规划概述 | 第18-19页 |
| 1.5 仿真技术概述 | 第19-20页 |
| 1.5.1 数控仿真技术分类 | 第19页 |
| 1.5.2 数控仿真技术现状 | 第19-20页 |
| 1.6 本文主要研究内容 | 第20-23页 |
| 第2章 整体叶盘五轴在位测量系统设计方案 | 第23-33页 |
| 2.1 整体叶盘测量方案 | 第23-27页 |
| 2.1.1 整体叶盘五轴测量系统设计 | 第23-26页 |
| 2.1.2 整体叶盘在位测量方案 | 第26-27页 |
| 2.2 测量机构选型 | 第27-30页 |
| 2.2.1 测头选型 | 第27-28页 |
| 2.2.2 信号传输器选型 | 第28-30页 |
| 2.3 五轴联动测量系统 | 第30-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-33页 |
| 第3章 整体叶盘测量路径规划 | 第33-57页 |
| 3.1 测量路径规划基本方法、内容 | 第33-35页 |
| 3.2 测量路径规划基本原则 | 第35-36页 |
| 3.3 测量点测量序列规划 | 第36-44页 |
| 3.3.1 测量点特征分析 | 第36-37页 |
| 3.3.2 测量点区域划分 | 第37-40页 |
| 3.3.3 测量点顺序规划 | 第40-44页 |
| 3.4 测轴矢量规划 | 第44-51页 |
| 3.4.1 全局干涉极限位置测轴矢量计算 | 第45-46页 |
| 3.4.2 局部干涉极限位置测轴矢量计算 | 第46-48页 |
| 3.4.3 测轴矢量安全范围计算 | 第48-51页 |
| 3.5 测量参数计算 | 第51-53页 |
| 3.5.1 触发深度计算 | 第52页 |
| 3.5.2 触发安全距离计算 | 第52-53页 |
| 3.5.3 其他测量参数 | 第53页 |
| 3.6 CAM 自动编程测量路径文件 | 第53-56页 |
| 3.7 本章小结 | 第56-57页 |
| 第4章 整体叶盘五轴测量系统后置处理 | 第57-71页 |
| 4.1 后置处理技术简介 | 第57-58页 |
| 4.1.1 测量系统后置处理主要任务 | 第57页 |
| 4.1.2 后置处理技术国内外发展现状 | 第57-58页 |
| 4.2 五轴测量系统后置处理 | 第58-63页 |
| 4.2.1 五轴测量系统运动学模型 | 第58-60页 |
| 4.2.2 五轴测量系统后置处理中运动学逆解 | 第60-62页 |
| 4.2.3 五轴测量系统进给速度后置处理 | 第62-63页 |
| 4.3 基于 Matlab 后置处理程序开发 | 第63-69页 |
| 4.3.1 Catia 测量路径文件格式分析 | 第63-65页 |
| 4.3.2 Matlab 编程总体思路 | 第65-66页 |
| 4.3.3 后置处理程序开发 | 第66-69页 |
| 4.4 本章小结 | 第69-71页 |
| 第5章 五轴测量系统测量仿真功能研究与实现 | 第71-79页 |
| 5.1 测量系统仿真的意义 | 第71-72页 |
| 5.2 五轴测量系统测量仿真 | 第72-78页 |
| 5.2.1 五轴测量系统测量仿真总体思路 | 第72-73页 |
| 5.2.2 仿真平台选择 | 第73页 |
| 5.2.3 五轴数控测量仿真环境建立 | 第73-76页 |
| 5.2.4 基于 VERICUT 数控测量仿真过程 | 第76-78页 |
| 5.3 仿真实验数据分析 | 第78页 |
| 5.4 本章小结 | 第78-79页 |
| 第6章 结论与展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-87页 |
| 作者简介 | 第87页 |
| 研究成果 | 第87-89页 |
| 致谢 | 第89页 |