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SNS约瑟夫森结的制备及其特性研究

摘要第2-3页
Abstract第3页
第一章 绪论第6-14页
    1.1 课题背景及研究意义第6-7页
    1.2 国内外的研究现状第7-12页
        1.2.1 国外研究动态第8-10页
        1.2.2 国内研究动态第10-12页
    1.3 本文主要研究内容和研究方法第12-14页
第二章 超导材料的发展第14-22页
    2.1 超导体的发现及物质的临界温度第14-16页
    2.2 超导现象的解释第16-19页
        2.2.1 超导现象的宏观解释第16-18页
            2.2.1.1 二流体模型第16-17页
            2.2.1.2 伦敦方程第17-18页
        2.2.2 超导现象的微观解释第18-19页
    2.3 超导电子器件第19-20页
    2.4 本章小结第20-22页
第三章 约瑟夫森效应第22-28页
    3.1 约瑟夫森效应第22-26页
        3.1.1 直流约瑟夫森效应第24-25页
        3.1.2 交流约瑟夫森效应第25-26页
    3.2 夏皮罗微波感应台阶第26-27页
    3.3 本章小结第27-28页
第四章 约瑟夫森结的制备第28-42页
    4.1 测试系统的搭建第28-29页
    4.2 Nb膜及Nb_xSi_(1-x)膜的制备第29-33页
        4.2.1 薄膜应力第30-31页
        4.2.2 Nb膜的制备第31-32页
        4.2.3 Nb_xSi_(1-x)膜的制备第32-33页
    4.3 约瑟夫森结的设计和制备第33-41页
        4.3.1 光刻掩膜版的设计第33-34页
        4.3.2 约瑟夫森结的制备第34-41页
    4.4 本章小结第41-42页
第五章 约瑟夫森结的测试第42-48页
    5.1 Nb膜和Nb_xSi_(1-x)膜特性的低温测量第42-43页
    5.2 约瑟夫森结的测试第43-46页
        5.2.1 约瑟夫森结的的测试原理第43-44页
        5.2.2 约瑟夫森结的测试及特性分析第44-46页
    5.3 本章小结第46-48页
第六章 结论第48-50页
参考文献第50-52页
攻读学位期间的研究成果第52-53页
致谢第53-54页

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