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基于NAND Flash的多路并行存储系统的研究与实现

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-16页
    1.1 研究背景第10-11页
    1.2 国内外发展与研究概况第11-14页
        1.2.1 国内外发展概况第11-13页
        1.2.2 固态存储技术的相关研究第13-14页
    1.3 本文主要工作第14页
    1.4 论文结构第14-16页
第2章 固态存储相关技术第16-32页
    2.1 NAND Flash 存储器第16-21页
        2.1.1 NAND Flash 内部结构第16-17页
        2.1.2 NAND Flash 操作第17-21页
    2.2 FTL 简介第21-32页
        2.2.1 地址映射第21-27页
        2.2.2 垃圾回收第27-29页
        2.2.3 均衡损耗第29-32页
第3章 基于 NAND Flash 的多路并行固态存储系统第32-45页
    3.1 系统设计需求与总体架构第32-33页
        3.1.1 系统设计需求第32页
        3.1.2 系统总体框架第32-33页
    3.2 SATA 协议模块设计第33-39页
        3.2.1 SATA 协议模块框架第35页
        3.2.2 物理层设计第35-36页
        3.2.3 链路层设计第36-37页
        3.2.4 传输层设计第37-38页
        3.2.5 应用层设计第38-39页
    3.3 NAND Flash 控制器设计第39-42页
        3.3.1 控制器设计需求第39页
        3.3.2 控制器结构第39-40页
        3.3.3 控制器状态机第40-42页
    3.4 多通道架构的并行机制第42-45页
        3.4.1 条带化技术第43页
        3.4.2 流水线技术第43-45页
第4章 闪存转换层设计第45-67页
    4.1 SBμ-FTL 结构第45-46页
    4.2 地址映射第46-61页
        4.2.1 BANK 模块第47-50页
        4.2.2 超级块第50-52页
        4.2.3 基于μ树的变粒度地址映射第52-56页
        4.2.4 读写请求处理第56-61页
    4.3 垃圾回收第61-65页
        4.3.1 垃圾回收效率第61-63页
        4.3.2 垃圾回收对象第63-64页
        4.3.3 垃圾回收时机第64-65页
    4.5 均衡损耗第65-67页
第5章 系统测试第67-76页
    5.1 测试平台第67-69页
        5.1.1 硬件测试平台第67-68页
        5.1.2 FTL 性能测试平台第68-69页
    5.2 硬件模块测试第69-72页
        5.2.1 SATA 模块测试第69-70页
        5.2.2 NAND Flash 控制器测试第70-72页
    5.3 FTL 性能测试第72-75页
        5.3.1 超级块测试第72-74页
        5.3.2 垃圾回收测试第74页
        5.3.4 均衡损耗第74-75页
    5.4 整体性能测试第75-76页
结论与展望第76-78页
参考文献第78-82页
致谢第82-83页
附录 A 攻读硕士学位期间发表的论文第83页

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