基于图像处理的垂测频高图E、Es层描迹自动判读研究
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 1 绪论 | 第10-14页 |
| 1.1 课题来源及意义 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3 课题来源 | 第13页 |
| 1.4 论文的主要工作安排 | 第13-14页 |
| 2 电离层垂直探测数据自动判读基础 | 第14-25页 |
| 2.1 电离层基础知识 | 第14-19页 |
| 2.1.1 电离层的形成及其特性 | 第14-15页 |
| 2.1.2 电离层扰动来源 | 第15-16页 |
| 2.1.3 电离层结构组成及各层特征 | 第16-19页 |
| 2.2 电离层监测手段及理论根据 | 第19-22页 |
| 2.3 频高图简介 | 第22-24页 |
| 2.4 本文的整体方案流程 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25页 |
| 3 垂测数据预处理 | 第25-41页 |
| 3.1 数据来源和频高图生成 | 第25-26页 |
| 3.2 频高图预处理 | 第26-38页 |
| 3.2.1 描迹增强 | 第27-33页 |
| 3.2.2 形态学闭操作 | 第33-35页 |
| 3.2.3 划分描迹区域 | 第35-36页 |
| 3.2.4 去除椒盐噪声 | 第36-37页 |
| 3.2.5 去除垂线噪声 | 第37-38页 |
| 3.3 E 区提取 | 第38-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41页 |
| 4 E、Es 层描迹自动判读 | 第41-48页 |
| 4.1 E、Es 层描迹介绍 | 第42-45页 |
| 4.2 E、Es 层描迹类型识别 | 第45-47页 |
| 4.3 E、Es 层参数提取 | 第47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-48页 |
| 5 实验分析 | 第48-50页 |
| 5.1 度量结果统计 | 第48页 |
| 5.2 影响判读结果的一些因素 | 第48-49页 |
| 5.3 特殊情况的频高图 | 第49-50页 |
| 5.4 本章小结 | 第50页 |
| 6 总结与展望 | 第50-52页 |
| 6.1 总结 | 第50-51页 |
| 6.2 展望 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第58-59页 |
