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基于铌酸锂晶体平面光波导的写入及其实验研究

摘要第5-6页
abstract第6-7页
第1章 绪论第10-16页
    1.1 引言第10页
    1.2 课题研究的目的与意义第10-11页
    1.3 平面光波导写入的国内外发展现状第11-14页
        1.3.1 平面波导传统制作工艺第11-12页
        1.3.2 光写入波导技术发展现状第12-13页
        1.3.3 光折变晶体内光写入波导技术发展现状第13-14页
    1.4 本论文的主要研究内容第14-16页
第2章 光波导写入材料的光折变效应第16-28页
    2.1 光折变效应的定义与特点第16-21页
        2.1.1 光折变效应的定义第16页
        2.1.2 光折变效应物理机制第16-21页
        2.1.3 光折变效应主要特点第21页
    2.2 光折变效应的基本方程第21-26页
        2.2.1 存在条件第21-22页
        2.2.2 带运输模型第22-24页
        2.2.3 光致空间电荷场第24-26页
    2.3 光折变材料概述第26-27页
    2.4 本章小结第27-28页
第3章 基于铌酸锂晶体平面光波导写入的理论分析第28-34页
    3.1 铌酸锂晶体的基本结构第28-29页
    3.2 辐照光下掺铁铌酸锂晶体的光致折射率变化第29-32页
        3.2.1 铌酸锂晶体的光折变中心第29页
        3.2.2 铌锂晶体的光致折射率变化第29-32页
    3.3 掺铁铌酸锂的性能第32页
    3.4 本章小结第32-34页
第4章 实验室制备基于铌酸锂晶体平面光波导结构第34-49页
    4.1 双棱镜法调制干涉光场第34-44页
        4.1.1 双棱镜法中虚光源位置的讨论第35-37页
        4.1.2 双棱镜放置方式对干涉光场的影响第37-43页
        4.1.3 双棱镜法测量光波长第43-44页
    4.2 铌酸锂晶体内波导写入的光路设计第44-45页
    4.3 光路系统单元器件第45-48页
    4.4 本章小结第48-49页
第5章 铌酸锂晶体中写入波导的特性分析第49-58页
    5.1 用切片干涉法测量波导结构的折射率分布第49-52页
        5.1.1 切片干法光路第49-51页
        5.1.2 切片干涉法原理第51-52页
    5.2 波导周期的测量第52-53页
    5.3 导光测试第53-55页
    5.4 抗光损伤测试第55-56页
    5.5 本章小结第56-58页
结论第58-59页
参考文献第59-63页
攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果第63-64页
致谢第64页

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