永磁机构真空断路器同步关合控制的研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 中文摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·研究背景和意义 | 第11-12页 |
| ·永磁机构同步关合技术国内外现状 | 第12-14页 |
| ·外发展现状 | 第12-13页 |
| ·国内发展现状及前景 | 第13页 |
| ·存在的不足 | 第13-14页 |
| ·本课题研究的意义 | 第14-15页 |
| ·本课题研究的内容 | 第15-17页 |
| 第二章 永磁机构原理及特性分析 | 第17-31页 |
| ·研究背景和意义 | 第17-21页 |
| ·永磁机构的特点 | 第17-18页 |
| ·永磁机构的构造 | 第18-20页 |
| ·单稳态永磁机构的工作原理 | 第20-21页 |
| ·单稳态永磁机构静态特性分析 | 第21-25页 |
| ·磁场数值的计算 | 第21-24页 |
| ·电磁力的理论推导 | 第24-25页 |
| ·单稳态永磁机构的动态特性计算与分析 | 第25-30页 |
| ·单稳态永磁机构动态特性模型的建立 | 第25-28页 |
| ·单稳态永磁机构动态特性微分方程组的求解 | 第28-29页 |
| ·单稳态永磁机构动态过程分析 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 真空断路器的同步关合技术和影响因素 | 第31-46页 |
| ·同步关合技术的原理 | 第31-32页 |
| ·同步开关的技术要求 | 第32页 |
| ·影响同步关合技术的因素 | 第32-36页 |
| ·预击穿对同步关合的影响 | 第33-34页 |
| ·控制电压对同步关合的影响 | 第34-35页 |
| ·环境温度对合闸时间的影响 | 第35-36页 |
| ·老化与磨损对合闸时间的影响 | 第36页 |
| ·同步关合技术仿真 | 第36-44页 |
| ·电容器同步关合技术分析 | 第36-39页 |
| ·空载变压器的同步关合技术分析 | 第39-41页 |
| ·空载线路的同步关合技术分析 | 第41-44页 |
| ·同步关合技术在断路器中的应用与实现 | 第44-45页 |
| ·电压电流信号过零点的提取 | 第44页 |
| ·移相延迟时间的计算 | 第44-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 空断路器同步关合控制的硬件设计 | 第46-55页 |
| ·控制单元的硬件结构构成 | 第46-47页 |
| ·控制单元的硬件设计 | 第47-52页 |
| ·CPU模块 | 第47-49页 |
| ·电源模块 | 第49-51页 |
| ·电压检测模块 | 第51-52页 |
| ·通信模块 | 第52页 |
| ·硬件的抗干扰技术 | 第52-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 真空断路器同步关合控制的软件设计 | 第55-64页 |
| ·软件设计的总体思想 | 第55页 |
| ·嵌入式操作系统μC/OS-Ⅱ的特点 | 第55-56页 |
| ·引入嵌入式实时操作系统μC/OS-Ⅱ的意义 | 第56-58页 |
| ·μC/OS-Ⅱ在C8051F015上的移植 | 第58-60页 |
| ·μC/OS-Ⅱ的移植条件 | 第58-59页 |
| ·μC/OS-Ⅱ的移植内容 | 第59-60页 |
| ·控制流程及子程序模块 | 第60-61页 |
| ·初步调试结果 | 第61-62页 |
| ·软件的抗干扰设计 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第六章 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-67页 |
| 附录A | 第67-68页 |
| 附录B | 第68-69页 |
| 作者简历 | 第69-71页 |
| 学位论文数据集 | 第71页 |
