| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 图像检测技术发展 | 第10页 |
| 1.2 精密光学镜片表面划痕疵病检测的研究意义 | 第10-11页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.3.1 疵病检测技术研究现状 | 第11-13页 |
| 1.3.2 图像边缘检测技术的研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本文的主要研究内容及论文章节安排 | 第14-17页 |
| 1.4.1 本文的主要研究内容 | 第14-15页 |
| 1.4.2 论文内容章节安排 | 第15-17页 |
| 第2章 边缘检测基础理论和方法 | 第17-35页 |
| 2.1 边缘检测技术概述 | 第17页 |
| 2.2 像素级边缘检测的方法分类 | 第17-25页 |
| 2.2.1 基于一阶微分的边缘检测方法 | 第18-22页 |
| 2.2.2 基于二阶微分的边缘检测方法 | 第22-23页 |
| 2.2.3 像素级边缘检测算法检测结果与比较 | 第23-25页 |
| 2.3 亚像素边缘检测方法 | 第25-34页 |
| 2.3.1 矩方法 | 第25-31页 |
| 2.3.2 插值法 | 第31-34页 |
| 2.4 本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 改进的多尺度线性检测边缘检测算法 | 第35-42页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 基础线性检测 | 第35-37页 |
| 3.3 多尺度线检测 | 第37-38页 |
| 3.4 本文改进的线检测边缘检测算法 | 第38页 |
| 3.5 实验验证及分析 | 第38-41页 |
| 3.5.1 多尺度线性检测边缘检测实验 | 第38-39页 |
| 3.5.2 像素级边缘检测鲁棒性实验 | 第39-41页 |
| 3.6 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 改进的曲线拟合亚像素边缘检测方法 | 第42-57页 |
| 4.1 引言 | 第42页 |
| 4.2 拟合法亚像素边缘检测算法 | 第42-49页 |
| 4.2.1 离散的Chebyshev多项式拟合法 | 第42-43页 |
| 4.2.2 最小二乘回归直线拟合法 | 第43-44页 |
| 4.2.3 曲面拟合法 | 第44-47页 |
| 4.2.4 曲线拟合法 | 第47-49页 |
| 4.3 本文改进的曲线拟合亚像素边缘检测方法 | 第49-51页 |
| 4.4 实验验证及分析 | 第51-55页 |
| 4.4.1 亚像素级边缘定位精度、宽度测量、鲁棒性实验 | 第51-55页 |
| 4.4.2 时间复杂度实验 | 第55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 总结与展望 | 第57-59页 |
| 致谢 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-64页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第64页 |
| A. 发表论文情况 | 第64页 |
| B. 参加科研项目 | 第64页 |