X波段频率合成源技术研究
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 绪论 | 第10-14页 |
1.1 研究工作的背景与意义 | 第10页 |
1.2 频率合成源的国内外研究历史与现状 | 第10-12页 |
1.3 本文的主要工作 | 第12-13页 |
1.4 本论文的结构安排 | 第13-14页 |
第二章 锁相环技术原理 | 第14-26页 |
2.1 锁相环电路结构 | 第14-18页 |
2.1.1 鉴相器 | 第14-15页 |
2.1.2 电荷泵 | 第15-17页 |
2.1.3 环路滤波器 | 第17页 |
2.1.4 压控振荡器 | 第17-18页 |
2.2 锁相环电路的主要技术指标 | 第18-22页 |
2.2.1 频率与功率 | 第18页 |
2.2.2 相位噪声 | 第18-21页 |
2.2.3 杂散抑制度 | 第21-22页 |
2.3 锁相环频率合成源 | 第22-25页 |
2.3.1 整数型频率合成源 | 第22-23页 |
2.3.2 小数型频率合成源 | 第23-24页 |
2.3.3 多环路频率合成源 | 第24-25页 |
2.4 本章小结 | 第25-26页 |
第三章 环路滤波器的研究 | 第26-43页 |
3.1 环路滤波器的基本概念 | 第26-28页 |
3.1.1 环路带宽 | 第26页 |
3.1.2 相位裕度 | 第26-27页 |
3.1.3 零极点 | 第27-28页 |
3.2 环路滤波器的结构 | 第28-36页 |
3.2.1 一阶RC无源低通滤波器 | 第28-29页 |
3.2.2 一阶RC无源积分比例滤波器 | 第29-31页 |
3.2.3 二阶无源环路滤波器 | 第31-33页 |
3.2.4 三阶无源环路滤波器 | 第33-35页 |
3.2.5 三阶有源环路滤波器 | 第35-36页 |
3.3 宽带环路滤波器设计 | 第36-42页 |
3.3.1 输出频率对环路带宽的影响 | 第36-39页 |
3.3.2 环路带宽对相位噪声的影响 | 第39-40页 |
3.3.3 相位裕度对相位噪声的影响 | 第40-41页 |
3.3.4 环路对杂散的影响 | 第41页 |
3.3.5 环路参数对锁定时间的影响 | 第41-42页 |
3.4 本章小结 | 第42-43页 |
第四章 锁相环频率合成源设计 | 第43-73页 |
4.1 频率合成源方案设计 | 第43-47页 |
4.1.1 系统方案选择 | 第43-45页 |
4.1.2 压控振荡器选择 | 第45页 |
4.1.3 环路滤波器方案选择 | 第45-46页 |
4.1.4 参考频率源选择 | 第46页 |
4.1.5 增益模块选择 | 第46-47页 |
4.2 ADF41020应用设计 | 第47-49页 |
4.2.1 时序要求 | 第47-48页 |
4.2.2 控制命令 | 第48-49页 |
4.2.3 频率控制 | 第49页 |
4.3 电源方案设计 | 第49-51页 |
4.3.1 电源选择 | 第50页 |
4.3.2 升压电源设计 | 第50-51页 |
4.4 功率分配器设计 | 第51-56页 |
4.4.1 奇偶模分析 | 第51-53页 |
4.4.2 功分器理想模型仿真 | 第53-54页 |
4.4.3 功分器实际模型仿真 | 第54-56页 |
4.5 环路滤波器设计 | 第56-59页 |
4.6 频率合成源电路设计 | 第59-65页 |
4.6.1 原理图绘制 | 第60-64页 |
4.6.2 电路板布局 | 第64-65页 |
4.7 频率合成源模块调试 | 第65-68页 |
4.7.1 电源测试 | 第65-66页 |
4.7.2 参考频率源测试 | 第66页 |
4.7.3 锁相环芯片测试 | 第66-67页 |
4.7.4 系统调试 | 第67-68页 |
4.8 频率合成源性能测试 | 第68-72页 |
4.8.1 频率测试 | 第68-69页 |
4.8.2 相位噪声测试 | 第69-70页 |
4.8.3 杂散抑制度测试 | 第70-71页 |
4.8.4 锁定时间测试 | 第71-72页 |
4.9 本章小结 | 第72-73页 |
第五章 全文总结与展望 | 第73-74页 |
5.1 全文总结 | 第73页 |
5.2 未来展望 | 第73-74页 |
致谢 | 第74-75页 |
参考文献 | 第75-78页 |
攻读硕士学位期间取得的成果 | 第78-79页 |