| 目录 | 第4-7页 |
| 中文摘要 | 第7-8页 |
| 英文摘要 | 第8页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| 1． 集成电路自动测试技术 | 第9-10页 |
| 2． 电子设计自动化的发展给测试技术带来的新挑战 | 第10-11页 |
| 3． RTL集成电路测试技术发展现状 | 第11-13页 |
| 4． 本文的研究内容 | 第13-14页 |
| 第二章 电路测试的基本概念和理论 | 第14-24页 |
| 1． 测试 | 第14页 |
| 2． 故障和故障模型 | 第14-17页 |
| 2．1 故障 | 第14-15页 |
| 2．2 故障模型 | 第15-17页 |
| 3． 组合电路测试生成与测试生成算法 | 第17-21页 |
| 3．1 确定性测试生成 | 第17页 |
| 3．2 组合电路测试生成算法 | 第17-18页 |
| 3．3 FAN算法的基本概念和思想 | 第18-21页 |
| 4． 结构测试与功能测试 | 第21-24页 |
| 第三章 硬件描述语言 | 第24-31页 |
| 1． EDA设计主要流程 | 第24-25页 |
| 2． 硬件描述语言的特点 | 第25-27页 |
| 2．1 系统级（System Level） | 第26页 |
| 2．2 行为级（Behavior Level） | 第26页 |
| 2．3 寄存器传输级（RTL：Register Transfer Level） | 第26-27页 |
| 2．4 逻辑门级（Gate Level） | 第27页 |
| 2．5 开关级（Switch Level） | 第27页 |
| 3． Verilog HDL | 第27-30页 |
| 4． RTL硬件描述的特点 | 第30-31页 |
| 第四章 Verilog HDL编译器的设计与实现 | 第31-40页 |
| 1． 面向功能和面向结构的编译器 | 第31-33页 |
| 1．1 面向功能的编译器 | 第31-33页 |
| 1．2 面向结构的编译器 | 第33页 |
| 2． 总体结构 | 第33-35页 |
| 2．1 文本过滤器 | 第34页 |
| 2．2 语法解析器 | 第34页 |
| 2．3 模块对象生成器 | 第34-35页 |
| 2．4 模块类型库 | 第35页 |
| 2．5 模块平面化 | 第35页 |
| 3． 功能模块对象的数据结构 | 第35-37页 |
| 4． 设计与实现中的几个关键问题和解决方法 | 第37-39页 |
| 4．1 与程序设计语言编译器的不同点和处理策略 | 第37-38页 |
| 4．2 对分支信号线的处理 | 第38页 |
| 4．3 对于矢量型信号线的处理 | 第38-39页 |
| 4．4 对于buffer类型的处理 | 第39页 |
| 5． 小结 | 第39-40页 |
| 第五章 基于相似电路的RTL组合电路测试生成技术研究 | 第40-50页 |
| 1． 组合电路信号线矢量的分析 | 第41-43页 |
| 1．1 信号线矢量表示的定义 | 第41页 |
| 1．2 几种矢量连接形式的分析 | 第41-43页 |
| 2． 相似电路 | 第43-45页 |
| 3． 基于相似电路的测试生成方法 | 第45-47页 |
| 4． 实验结果 | 第47-48页 |
| 5． 小结 | 第48-50页 |
| 第六章 基于相似电路的测试在存储型故障中的应用 | 第50-58页 |
| 1． CMOS逻辑门电路内部故障的分析 | 第50-53页 |
| 1．1 CMOS逻辑门电路的结构 | 第50-52页 |
| 1．2 CMOS逻辑门内部单开路故障引起的存储型故障 | 第52-53页 |
| 2． 存储型故障测试的必要条件 | 第53-54页 |
| 3． 组合电路测试集应用于存储型故障 | 第54-55页 |
| 4． 基于相似电路的测试应用于存储型故障 | 第55-57页 |
| 5． 小结 | 第57-58页 |
| 第七章 结束语 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63页 |
