| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 课题背景 | 第11-12页 |
| 1.2 石墨烯的制备及其复合材料研究现状 | 第12-15页 |
| 1.2.1 石墨烯的制备方法 | 第12-13页 |
| 1.2.2 基于石墨烯导电复合材料的研究进展 | 第13-15页 |
| 1.3 壳聚糖基导电复合材料研究现状 | 第15-16页 |
| 1.4 论文的主要研究内容 | 第16-17页 |
| 第2章 实验部分 | 第17-22页 |
| 2.1 实验药品与试剂 | 第17页 |
| 2.2 实验用仪器与设备 | 第17-18页 |
| 2.3 石墨烯的制备 | 第18页 |
| 2.4 银纳米线的制备 | 第18-19页 |
| 2.5 石墨烯/壳聚糖复合薄膜的制备 | 第19-20页 |
| 2.6 分析表征方法 | 第20-22页 |
| 2.6.1 扫描电子显微镜(SEM) | 第20页 |
| 2.6.2 透射电子显微镜（TEM） | 第20页 |
| 2.6.3 拉曼光谱测试（Raman） | 第20页 |
| 2.6.4 X-射线衍射(XRD) | 第20-21页 |
| 2.6.5 傅立叶变换红外光谱测试（FTIR） | 第21页 |
| 2.6.6 热重分析（TG） | 第21页 |
| 2.6.7 导电性能测试 | 第21页 |
| 2.6.8 拉伸性能测试 | 第21-22页 |
| 第3章 石墨烯对复合薄膜导电性能影响分析 | 第22-34页 |
| 3.1 石墨烯的层数与形貌 | 第22-28页 |
| 3.1.1 石墨烯透射电子显微镜分析 | 第22-24页 |
| 3.1.2 石墨烯扫描电子显微镜分析 | 第24-26页 |
| 3.1.3 石墨烯的X射线衍射分析 | 第26-28页 |
| 3.2 石墨烯的表面状态 | 第28-33页 |
| 3.2.1 FTIR分析 | 第28-29页 |
| 3.2.2 TG分析 | 第29-31页 |
| 3.2.3 Raman分析 | 第31-33页 |
| 3.3 石墨烯的电阻率 | 第33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第4章 石墨烯/壳聚糖复合薄膜性能研究 | 第34-48页 |
| 4.1 石墨烯/壳聚糖复合薄膜组分设计 | 第34页 |
| 4.2 石墨烯/壳聚糖复合薄膜导电性 | 第34-40页 |
| 4.2.1 RGO/壳聚糖复合薄膜的导电性 | 第35-36页 |
| 4.2.2 G1/壳聚糖复合薄膜的导电性 | 第36-38页 |
| 4.2.3 G2/壳聚糖复合薄膜的导电性 | 第38-40页 |
| 4.3 石墨烯在复合薄膜中的分散状态 | 第40-44页 |
| 4.3.1 SEM分析 | 第40-43页 |
| 4.3.2 XRD分析 | 第43-44页 |
| 4.4 力学性能 | 第44-46页 |
| 4.5 石墨烯对复合薄膜导电性的影响 | 第46-47页 |
| 4.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第5章 银纳米线/石墨烯复合添加对复合薄膜导电性的影响 | 第48-62页 |
| 5.1 银纳米线的制备 | 第48页 |
| 5.2 银纳米线制备规律的研究 | 第48-55页 |
| 5.2.1 反应温度对银纳米粒子形貌的影响 | 第48-49页 |
| 5.2.2 反应时间对银纳米粒子形貌的影响 | 第49-51页 |
| 5.2.3 PVP和AgNO3摩尔比对产物形貌的影响 | 第51-52页 |
| 5.2.4 PVP/FeCl3溶液滴加速度对银纳米粒子形貌的影响 | 第52-55页 |
| 5.3 AgNW/石墨烯/壳聚糖复合薄膜的导电性 | 第55-61页 |
| 5.3.1 AgNW/G1/CS复合薄膜的导电性 | 第55-57页 |
| 5.3.2 AgNW/G2/CS复合薄膜的导电性 | 第57-59页 |
| 5.3.3 复合薄膜形貌分析 | 第59-61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第68-69页 |
| 致谢 | 第69页 |
