摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第10-21页 |
1.1 研究的背景和意义 | 第10-12页 |
1.1.1 我国重金属污染现状 | 第10-11页 |
1.1.2 土壤重金属污染来源 | 第11-12页 |
1.1.3 土壤重金属污染特点 | 第12页 |
1.1.4 土壤重金属污染危害 | 第12页 |
1.2 X 射线荧光光谱检测技术 | 第12-18页 |
1.2.1 XRF 的产生 | 第13-14页 |
1.2.2 XRF 光谱仪工作原理 | 第14-16页 |
1.2.3 XRF 分析原理 | 第16-17页 |
1.2.4 XRF 光谱仪特点及应用 | 第17-18页 |
1.3 小波变换解谱 | 第18-19页 |
1.3.1 XRF 能谱干扰 | 第18页 |
1.3.2 小波变换的特点 | 第18-19页 |
1.4 研究内容与技术路线 | 第19-21页 |
第2章 数据获取与解谱理论基础 | 第21-27页 |
2.1 光谱数据的获取 | 第21-22页 |
2.1.1 仪器与试剂 | 第21页 |
2.1.2 数据获取 | 第21-22页 |
2.2 WT 的由来 | 第22页 |
2.3 WT 与多分辨率分析 | 第22-27页 |
2.3.1 WT 的定义 | 第22-23页 |
2.3.2 离散小波变换 | 第23-24页 |
2.3.3 多分辨率分析与 Mallat 算法 | 第24-27页 |
第3章 XRF 光谱的谱线光滑与基线校正 | 第27-40页 |
3.1 FFT 算法 | 第27-28页 |
3.2 Savitzky-Golay 滤波算法与 MA 算法 | 第28-29页 |
3.2.1 Savitzky-Golay 滤波算法 | 第28页 |
3.2.2 MA 算法 | 第28-29页 |
3.3 WT 算法 | 第29-32页 |
3.3.1 WT 的特点 | 第29页 |
3.3.2 WT 去噪原理 | 第29-32页 |
3.4 几种去噪方法结果比较 | 第32-33页 |
3.5 WT 用于谱线光滑 | 第33-36页 |
3.5.1 WT 去噪效果评价指标 | 第33页 |
3.5.2 WT 去噪结果 | 第33-36页 |
3.6 WT 用于基线校正 | 第36-40页 |
3.6.1 WT 用于基线校正的理论基础 | 第36-37页 |
3.6.2 WT 用于基线校正处理效果 | 第37-40页 |
第4章 XRF 光谱重金属检测模型的建立 | 第40-70页 |
4.1 基于多项式回归的定量分析模型 | 第40-43页 |
4.1.1 光谱数据的获取 | 第41-43页 |
4.1.2 标准曲线的验证 | 第43页 |
4.2 基于 LMBPANN 的定量分析模型 | 第43-61页 |
4.2.1 LM-BP-ANN 算法原理 | 第44-48页 |
4.2.2 LM-BP-ANN 算法与其他建模方法比较 | 第48-49页 |
4.2.3 LM-BP-ANN 模型建立 | 第49-61页 |
4.3 基于 SVM 的定量分析模型 | 第61-69页 |
4.3.1 SVM 算法 | 第62-63页 |
4.3.2 SVM 算法建模过程 | 第63页 |
4.3.3 SVM 定量模型的建立 | 第63-69页 |
4.4 三种建模方法结果对比 | 第69-70页 |
第5章 结论与进一步研究设想 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
作者简介及在学期间科研成果 | 第76-77页 |
致谢 | 第77页 |