| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 文献综述 | 第9-19页 |
| 1.1 引言 | 第9页 |
| 1.2 核磁共振检测技术 | 第9-12页 |
| 1.3 紫外可见光谱技术 | 第12-14页 |
| 1.4 其他检测技术 | 第14-18页 |
| 1.5 论文构思 | 第18-19页 |
| 2 实验 | 第19-23页 |
| 2.1 主要原料与试剂 | 第19页 |
| 2.2 材料表征方法 | 第19-23页 |
| 2.2.1 扫描电子显微镜 (SEM) | 第19页 |
| 2.2.2 傅立叶变换红外光谱（FT-IR） | 第19-20页 |
| 2.2.3 热重分析（TGA） | 第20页 |
| 2.2.4 低场核磁共振（NMR） | 第20页 |
| 2.2.5 比表面积和孔径分布 （BET） | 第20-21页 |
| 2.2.6 X射线光电子能谱（XPS） | 第21页 |
| 2.2.7 动态光散射（DLS） | 第21页 |
| 2.2.8 圆盘离心式纳米粒度分析仪（CPS） | 第21页 |
| 2.2.9 紫外可见分光光度计（UV-Vis） | 第21-23页 |
| 3 低场核磁共振（LF-NMR） | 第23-43页 |
| 3.1 引言 | 第23-24页 |
| 3.2 实验部分 | 第24-26页 |
| 3.2.1 原理部分 | 第24-26页 |
| 3.2.2 样品预处理 | 第26页 |
| 3.2.3 低场核磁共振NMR样品制备 | 第26页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第26-41页 |
| 3.3.1 二氧化硅纳米颗粒物理化学性质分析 | 第27-28页 |
| 3.3.2 二氧化硅纳米颗粒傅立叶红外谱图（FT-IR）分析 | 第28-30页 |
| 3.3.3 二氧化硅纳米颗粒XPS谱图分析 | 第30-31页 |
| 3.3.4 二氧化硅纳米颗粒热重（TG/DTG）谱图分析 | 第31-37页 |
| 3.3.5 二氧化硅纳米颗粒低场核磁共振（LF-NMR）分析 | 第37-41页 |
| 3.4 小结 | 第41-43页 |
| 4. 浊度法测量纳米颗粒粒径分布 | 第43-55页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 实验部分 | 第43-44页 |
| 4.2.1 原理部分 | 第43-44页 |
| 4.2.2 紫外可见分光光度计UV-Vis样品制备 | 第44页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第44-54页 |
| 4.3.1 聚苯乙烯微球测量 | 第44-53页 |
| 4.3.2 二氧化硅微球测量 | 第53-54页 |
| 4.4 小结 | 第54-55页 |
| 5 总结与展望 | 第55-56页 |
| 5.1 论文主要结论 | 第55页 |
| 5.2 论文的不足与展望 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第59-60页 |
| 致谢 | 第60-61页 |
