| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 引言 | 第9-12页 |
| 1.1 研究背景 | 第9-10页 |
| 1.2 研究的目的和意义 | 第10-11页 |
| 1.3 研究内容和论文结构 | 第11-12页 |
| 第2章 相关理论综述 | 第12-18页 |
| 2.1 项目管理理论 | 第12-16页 |
| 2.1.1 项目及基本特征 | 第12-13页 |
| 2.1.2 项目管理的知识体系及内涵 | 第13-14页 |
| 2.1.3 项目进度管理 | 第14-15页 |
| 2.1.4 项目质量管理 | 第15-16页 |
| 2.2 半导体芯片开发简介 | 第16-18页 |
| 2.2.1 半导体芯片介绍 | 第16页 |
| 2.2.2 半导体芯片制造过程 | 第16-17页 |
| 2.2.3 半导体芯片质量控制 | 第17-18页 |
| 第3章 艾萨公司半导体芯片制造开发项目简介 | 第18-22页 |
| 3.1 项目目标 | 第18页 |
| 3.2 艾萨公司半导体芯片制造开发项目管理体系 | 第18-19页 |
| 3.3 进度控制和质量管理的重要性 | 第19-22页 |
| 第4章 艾萨公司半导体芯片制造开发项目进度管理 | 第22-32页 |
| 4.1 项目进度计划制定 | 第22-25页 |
| 4.1.1 项目工作分解结构 | 第22-23页 |
| 4.1.2 工期估计 | 第23-24页 |
| 4.1.3 进度计划 | 第24-25页 |
| 4.2 项目进度控制 | 第25-32页 |
| 4.2.1 项目里程碑(Milestone) | 第25页 |
| 4.2.2 项目工作责任矩阵 | 第25-26页 |
| 4.2.3 项目进度计划实施方法 | 第26-27页 |
| 4.2.4 半导体芯片制造和开发项目进度的监测与调整 | 第27-32页 |
| 第5章 艾萨公司半导体芯片制造开发项目质量管理 | 第32-48页 |
| 5.1 质量管理标准的依据 | 第32-33页 |
| 5.1.1 国际标准 | 第32页 |
| 5.1.2 国内标准 | 第32-33页 |
| 5.2 艾萨公司半导体制造开发项目质量管理的标准和计划 | 第33-35页 |
| 5.3 质量控制 | 第35-47页 |
| 5.3.1 设计质量控制 | 第35-37页 |
| 5.3.2 工艺质量控制 | 第37-43页 |
| 5.3.3 测试质量控制 | 第43-47页 |
| 5.4 质量改进 | 第47-48页 |
| 第6章 结论 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-52页 |
| 致谢 | 第52-53页 |
| 附件 | 第53页 |