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TD-LTE基带处理芯片测试平台的研究与设计

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第8-16页
    1.1 移动通信技术发展概述第8-12页
        1.1.1 移动通信演进第8-9页
        1.1.2 TD-LTE 通信系统概述第9-12页
    1.2 TD-LTE 毫微微蜂窝基站基带处理芯片的研究背景第12-14页
        1.2.1 毫微微蜂窝基站的技术特点第12-13页
        1.2.2 毫微微蜂窝基站基带处理芯片的研究现状第13-14页
    1.3 课题介绍和论文结构第14-16页
        1.3.1 课题来源第14页
        1.3.2 主要工作内容第14-15页
        1.3.3 结构安排第15-16页
第二章 基带处理芯片测试方法背景分析第16-23页
    2.1 基带芯片功能测试验证方法概述第16-21页
        2.1.1 形式化测试验证第17-19页
        2.1.2 仿真测试验证第19-20页
        2.1.3 基于 FPGA 的原型测试第20-21页
        2.1.4 混合测试验证虚拟原型第21页
    2.2 本章小结第21-23页
第三章 基带处理芯片处理器编译平台的设计与实现第23-40页
    3.1 TD-LTE 毫微微蜂窝基站基带芯片的系统架构第23-29页
        3.1.1 物理层控制器第25-28页
        3.1.2 片上总线结构第28页
        3.1.3 芯片外设接口模块第28-29页
    3.2 基带芯片测试验证方案的选择第29-32页
        3.2.1 测试验证方法选取的原则第29页
        3.2.2 测试验证方法方案的选取第29-32页
    3.3 OR1200 处理器编译平台的实现与测试用例的设计第32-39页
        3.3.1 交叉编译平台的必要性第32-33页
        3.3.2 GNU 编译工具链的选取和脚本的设计第33-38页
        3.3.3 编译环境的工具链的调用方法第38-39页
    3.4 本章小结第39-40页
第四章 TD-LTE 基带处理芯片的模块化仿真第40-50页
    4.1 按照测试验证内容分类第40-41页
    4.2 仿真平台的设计与实现第41页
    4.3 基于虚拟原型仿真平台的模块验证第41-49页
        4.3.1 GPIO 控制器的仿真第41-45页
        4.3.2 串行外设接口的仿真第45-47页
        4.3.3 DMA 控制器的仿真第47-49页
    4.4 本章小结第49-50页
第五章 基于 FPGA 原型验证平台的系统级调试第50-70页
    5.1 基于 FPGA 的 SoC 原型测试平台第50-54页
        5.1.1 系统硬件架构第50-53页
        5.1.2 FPGA 测试思路第53-54页
    5.2 基带处理芯片子系统级调试方案第54-60页
        5.2.1 TD-LTE 基带芯片测试仪器选取第54-55页
        5.2.2 EDA 工具 Chipscope第55-56页
        5.2.3 基于 JTAG 的 GDB 源码级调试方案的设计第56-60页
    5.3 基于 FPGA 的芯片外设接口子模块调试第60-65页
        5.3.1 UART 控制器的测试第60-62页
        5.3.2 SD 卡工作于 SPI 模式的实现第62-64页
        5.3.3 存储器、DMA、UART 的联合测试第64-65页
    5.4 基于 FPGA 的系统级验证及结果分析第65-68页
        5.4.1 上下行链路测试目的和指标第65页
        5.4.2 下行链路调试第65-66页
        5.4.3 下行链路调试第66-68页
    5.5 本章小结第68-70页
第六章 总结与展望第70-72页
参考文献第72-74页
附录 1 攻读硕士学位期间撰写的论文第74-75页
附录 2 攻读硕士学位期间参加的科研项目第75-76页
致谢第76页

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