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抗辐射的三冗余高可靠星载计算机系统的研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
第一章 绪论第6-12页
    1.1 研究背景第6页
    1.2 空间辐射环境第6-8页
    1.3 国内外抗辐射计算机研究现状第8-10页
    1.4 本文主要工作第10-11页
    1.5 本文内容安排第11-12页
第二章 系统框架与切换策略第12-23页
    2.1 多冗余系统的发展历史第12页
    2.2 国内冗余容错系统实例第12-15页
        2.2.1 “创新一号”小卫星(双机冗余热备结构)第13页
        2.2.2 PFT-OBCS(多机容错并行结构)第13-15页
    2.3 星载多机并行容错系统结构第15-17页
        2.3.1 总体结构第15-16页
        2.3.2 模块功能说明第16-17页
    2.4 实际系统结构与切换策略(houxu)第17-23页
        2.4.1 实际系统冗余架构第17-18页
        2.4.2 并行系统输出选择策略第18-21页
        2.4.3 备份冗余切换原则第21-23页
第三章 故障标尺与故障树故障检测系统第23-43页
    3.1 故障标尺与辐射总剂量的预测第23-27页
        3.1.1 辐射总剂量效应第23-24页
        3.1.2 故障标尺的设计第24-25页
        3.1.3 故障标尺预测正确率的仿真第25-27页
    3.2 故障检测与故障树推理机制第27-35页
        3.2.1 故障树分析法中的基本概念和符号第29-30页
        3.2.2 故障树分析方法的特点第30-31页
        3.2.3 故障树的数学表示第31-32页
        3.2.4 故障树的建立第32-33页
        3.2.5 故障树的定性分析第33-34页
        3.2.6 故障树的定量分析第34-35页
    3.3 星上计算机的故障树框架建立第35-37页
        3.3.1 故障树结构第35-36页
        3.3.2 检测节点建模第36页
        3.3.3 故障节点建模第36-37页
    3.4 检测模块设计第37-43页
        3.4.1 CPU功能测试第38-39页
        3.4.2 A/D、D/A功能测试第39页
        3.4.3 串行接口功能测试第39-40页
        3.4.4 数字I/O功能测试第40-41页
        3.4.5 电压、电流、温度测试第41-43页
第四章 单粒子效应与RAM加固第43-54页
    4.1 单粒子效应第43-45页
    4.2 EDAC模块结构第45-47页
    4.3 算法介绍第47-51页
    4.4 仿真试验第51-54页
        4.4.1 错误纠正测试第52-53页
        4.4.2 三位错误检验测试第53-54页
第五章 实际系统测试与性能仿真第54-67页
    5.1 实际系统设计第54-58页
    5.2 实际系统的展示第58-60页
    5.3 冗余容错功能测试第60-61页
    5.4 故障树故障检测的性能仿真第61-67页
        5.4.1 故障仿真方法第61-67页
第六章 总结与展望第67-68页
致谢第68-69页
参考文献第69-71页

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