| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| 1.1 课题研究背景和意义 | 第8-9页 |
| 1.2 课题国内外研究现状 | 第9-10页 |
| 1.3 论文主要工作 | 第10-11页 |
| 1.4 论文组织结构 | 第11-14页 |
| 第二章 锁相环内建参数测量技术研究综述 | 第14-30页 |
| 2.1 锁相环综述 | 第14-17页 |
| 2.1.1 锁相环的结构与应用 | 第14-16页 |
| 2.1.2 锁相环的参数 | 第16-17页 |
| 2.2 锁相环抖动分析 | 第17-22页 |
| 2.2.1 抖动产生的原因及分类 | 第18-20页 |
| 2.2.2 抖动与相位噪声的关系 | 第20-21页 |
| 2.2.3 抖动测量的应用场景 | 第21-22页 |
| 2.3 锁相环BIJM技术综述 | 第22-28页 |
| 2.3.1 基于电容充电的BIJ | 第22-23页 |
| 2.3.2 基于TA的BIJM | 第23-24页 |
| 2.3.3 基于VDL的BIJM | 第24-25页 |
| 2.3.4 基于采样的BIJM | 第25-27页 |
| 2.3.5 其他方法及总结 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-30页 |
| 第三章 基于中央对称US-BIJM抖动测量关键技术 | 第30-46页 |
| 3.1 基于欠采样的抖动测量方法 | 第30-35页 |
| 3.1.1 基于欠采样的抖动测量原理 | 第31-32页 |
| 3.1.2 基于欠采样的抖动测量电路 | 第32-35页 |
| 3.2 基于中央对称US-BIJM技术 | 第35-40页 |
| 3.2.1 互采样测量原理 | 第35-36页 |
| 3.2.2 改进的抖动信息提取方式 | 第36-37页 |
| 3.2.3 基于对称舍弃法的采样数据处理方式 | 第37-38页 |
| 3.2.4 电路框图及工作流程 | 第38-40页 |
| 3.3 基于中央对称US-BIJM电路行为级验证 | 第40-45页 |
| 3.3.1 测量分辨率对测量结果的影响 | 第41-42页 |
| 3.3.2 互采样对测量结果的影响 | 第42-43页 |
| 3.3.3 可预测性抖动测量技术 | 第43-45页 |
| 3.4 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 基于中央对称US-BIJM抖动测量电路设计与分析 | 第46-60页 |
| 4.1 基于中央对称US-BIJM电路设计 | 第46-50页 |
| 4.1.1 基于中央对称US-BIJM前端设计 | 第46-48页 |
| 4.1.2 基于中央对称US-BIJM后端设计 | 第48-50页 |
| 4.2 基于中央对称US-BIJM电路分析 | 第50-58页 |
| 4.2.1 基于中央对称US-BIJM技术模块级前仿分析 | 第50-52页 |
| 4.2.2 基于中央对称US-BIJM技术电路级后仿分析 | 第52-56页 |
| 4.2.3 基于中央对称US-BIJM电路FPGA验证 | 第56-58页 |
| 4.3 本章小结 | 第58-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 总结 | 第60-61页 |
| 5.2 展望 | 第61-62页 |
| 致谢 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 作者简介 | 第68页 |
