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叶片在机测量专用数控系统开发

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第9-16页
    1.1 课题来源第9页
    1.2 研究背景与意义第9-11页
    1.3 叶片测量方法概述第11-13页
    1.4 测量技术的国内外研究概况第13-15页
    1.5 论文的主要研究内容第15-16页
2 接触式叶片扫描测量系统的整体方案设计第16-27页
    2.1 叶片测量辅助夹具的设计第16-21页
    2.2 叶片扫描测量测头的介绍第21-22页
    2.3“华中8型”数控系统组成第22-24页
    2.4 叶片在机测量测头控制方案与整体框架第24-26页
    2.5 本章小结第26-27页
3 叶片扫描测量数据采集与测头控制技术第27-34页
    3.1 数据采集与传输功能的实现第27-28页
    3.2 叶片自适应测量的测头跟随控制算法第28-31页
    3.3 叶片测量时轴的自适应控制第31-33页
    3.4 本章小结第33-34页
4 基于HNC8数控机床叶片测量关键技术第34-42页
    4.1 叶片在线测量功能的设计第34-37页
    4.2 基于HNC8叶片测量数据采样技术的实现第37-39页
    4.3 未知模型叶片在线自适应测量路径的设计第39-40页
    4.4 叶片测量线程通讯方式第40-41页
    4.5 本章小结第41-42页
5 基于HNC8叶片测量专用数控系统软件开发第42-54页
    5.1 软件平台的搭建第42-43页
    5.2 叶片扫描测量系统的功能需求分析第43页
    5.3 叶片测量专用数控系统的功能实现第43-50页
    5.4 自适应测量在HNC8上的实现方法及验证第50-53页
    5.5 本章小结第53-54页
6 总结与展望第54-56页
    6.1 全文总结第54-55页
    6.2 课题展望第55-56页
致谢第56-57页
参考文献第57-61页
附录I 叶片自适应测量模块第61-69页
附录Ⅱ 数据采集模块第69-78页

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