叶片在机测量专用数控系统开发
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 1 绪论 | 第9-16页 |
| 1.1 课题来源 | 第9页 |
| 1.2 研究背景与意义 | 第9-11页 |
| 1.3 叶片测量方法概述 | 第11-13页 |
| 1.4 测量技术的国内外研究概况 | 第13-15页 |
| 1.5 论文的主要研究内容 | 第15-16页 |
| 2 接触式叶片扫描测量系统的整体方案设计 | 第16-27页 |
| 2.1 叶片测量辅助夹具的设计 | 第16-21页 |
| 2.2 叶片扫描测量测头的介绍 | 第21-22页 |
| 2.3“华中8型”数控系统组成 | 第22-24页 |
| 2.4 叶片在机测量测头控制方案与整体框架 | 第24-26页 |
| 2.5 本章小结 | 第26-27页 |
| 3 叶片扫描测量数据采集与测头控制技术 | 第27-34页 |
| 3.1 数据采集与传输功能的实现 | 第27-28页 |
| 3.2 叶片自适应测量的测头跟随控制算法 | 第28-31页 |
| 3.3 叶片测量时轴的自适应控制 | 第31-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 4 基于HNC8数控机床叶片测量关键技术 | 第34-42页 |
| 4.1 叶片在线测量功能的设计 | 第34-37页 |
| 4.2 基于HNC8叶片测量数据采样技术的实现 | 第37-39页 |
| 4.3 未知模型叶片在线自适应测量路径的设计 | 第39-40页 |
| 4.4 叶片测量线程通讯方式 | 第40-41页 |
| 4.5 本章小结 | 第41-42页 |
| 5 基于HNC8叶片测量专用数控系统软件开发 | 第42-54页 |
| 5.1 软件平台的搭建 | 第42-43页 |
| 5.2 叶片扫描测量系统的功能需求分析 | 第43页 |
| 5.3 叶片测量专用数控系统的功能实现 | 第43-50页 |
| 5.4 自适应测量在HNC8上的实现方法及验证 | 第50-53页 |
| 5.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 6 总结与展望 | 第54-56页 |
| 6.1 全文总结 | 第54-55页 |
| 6.2 课题展望 | 第55-56页 |
| 致谢 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 附录I 叶片自适应测量模块 | 第61-69页 |
| 附录Ⅱ 数据采集模块 | 第69-78页 |