| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第一章 绪论 | 第10-18页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第10-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-15页 |
| 1.2.1 发展历程 | 第11-12页 |
| 1.2.2 国外现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 国内的现状 | 第13-15页 |
| 1.3 BIT技术应用的主要问题及解决途径 | 第15页 |
| 1.4 主要的研究内容 | 第15-16页 |
| 1.5 研究意义 | 第16页 |
| 1.6 论文结构 | 第16-18页 |
| 第二章 飞机电源系统GCU功能描述 | 第18-29页 |
| 2.1 飞机电源系统 | 第18-21页 |
| 2.1.1 电源系统的组成 | 第18-19页 |
| 2.1.2 飞机交流电源系统 | 第19-21页 |
| 2.2 GCU概述 | 第21-22页 |
| 2.2.1 GCU功能 | 第21-22页 |
| 2.2.2 GCU的输入输出 | 第22页 |
| 2.3 GCU保护功能 | 第22-26页 |
| 2.4 GCU的结构 | 第26-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 GCU电路故障类型分析及BIT设计准则 | 第29-38页 |
| 3.1 常见故障模式 | 第29-33页 |
| 3.1.1 CPU故障模式 | 第29-30页 |
| 3.1.2 RAM故障模式 | 第30-32页 |
| 3.1.3 ROM故障模式 | 第32-33页 |
| 3.1.4 A/D、D/A故障模式 | 第33页 |
| 3.1.5 通讯接口功能电路故障模式 | 第33页 |
| 3.1.6 传感器及信号调理电路故障模式 | 第33页 |
| 3.2 BIT的设计准则 | 第33-34页 |
| 3.3 BIT技术 | 第34-35页 |
| 3.4 BIT的测试点 | 第35-37页 |
| 3.4.1 测试点的类型 | 第36页 |
| 3.4.2 测试点的选择 | 第36-37页 |
| 3.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第四章 GCU的BIT系统测试方法研究 | 第38-47页 |
| 4.1GCU BITE系统主要功能描述 | 第38页 |
| 4.2 GCU BITE分类 | 第38-39页 |
| 4.3 GCU的BIT测试方法 | 第39-46页 |
| 4.3.1CPU的BIT测试 | 第39-41页 |
| 4.3.2 RAM功能电路模块的BIT测试方法 | 第41-43页 |
| 4.3.3 ROM的测试方法 | 第43页 |
| 4.3.4 A/D、D/A转换接口功能电路的测试方法 | 第43-44页 |
| 4.3.5 电源及参考电压的测试 | 第44页 |
| 4.3.6 输入通道电路的BIT测试方法 | 第44-45页 |
| 4.3.7 热电阻、压力等传感器信号调理电路BIT测试 | 第45页 |
| 4.3.8 输出通道电路的BIT测试方法 | 第45-46页 |
| 4.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 GCU电子控制器的设计 | 第47-62页 |
| 5.1 电子控制器的总体设计 | 第47-48页 |
| 5.2 各模块电路原理图设计 | 第48-57页 |
| 5.2.1 CPU的选择 | 第48页 |
| 5.2.2 通信接口电路 | 第48-49页 |
| 5.2.3 外扩RAM存储器 | 第49页 |
| 5.2.4 FLASH闪存 | 第49-50页 |
| 5.2.5 A/D转换和D/A转换电路 | 第50-51页 |
| 5.2.6 CPLD逻辑控制 | 第51-54页 |
| 5.2.7 开关量处理电路 | 第54-56页 |
| 5.2.8 频率信号调理电路 | 第56页 |
| 5.2.9 模拟量输输入/输出电路 | 第56-57页 |
| 5.3 DSP和CPLD的软件设计部分 | 第57-61页 |
| 5.3.1 DSP软件设计 | 第57-61页 |
| 5.3.2 CPLD软件设计 | 第61页 |
| 5.4 本章小结 | 第61-62页 |
| 第六章 故障注入验证BIT方案 | 第62-69页 |
| 6.1 故障注入方法 | 第62页 |
| 6.2 故障注入平台的设计 | 第62-68页 |
| 6.2.1 平台的总体架构设计 | 第63-64页 |
| 6.2.2 故障注入器的设计思路 | 第64页 |
| 6.2.3 故障仿真的分析 | 第64-65页 |
| 6.2.4 故障仿真工具的接口 | 第65页 |
| 6.2.5 故障注入点 | 第65-66页 |
| 6.2.6 故障测试平台界面设计 | 第66-68页 |
| 6.2.7 故障注入仿真结果 | 第68页 |
| 6.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 结论 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-75页 |
| 在校期间工作成果 | 第75页 |