| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| 1.1 课题背景与意义 | 第8-9页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第9-13页 |
| 1.3 研究内容与设计指标 | 第13-14页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第13页 |
| 1.3.2 设计要求 | 第13-14页 |
| 1.4 论文组织 | 第14-16页 |
| 第二章 相关技术分析 | 第16-24页 |
| 2.1 物理不可克隆函数 | 第16-17页 |
| 2.2 PUFs的分类 | 第17-18页 |
| 2.2.1 弱PUFs | 第17-18页 |
| 2.2.2 强PUFs | 第18页 |
| 2.3 PUFs的几个重要参数 | 第18-19页 |
| 2.3.1 节点平均值 | 第18-19页 |
| 2.3.2 片内汉明距离 | 第19页 |
| 2.3.3 片间汉明距离 | 第19页 |
| 2.4 NIST随机数检测套件 | 第19-20页 |
| 2.5 NIST SP 800-90随机数生成器 | 第20-22页 |
| 2.6 本章小结 | 第22-24页 |
| 第三章 SRAM PUFs的特性分析及防制约竞争码 | 第24-30页 |
| 3.1 SRAM PUFs的特性分析 | 第24-25页 |
| 3.2 防制约竞争码 | 第25-29页 |
| 3.2.1 RRC的生成机制 | 第25-28页 |
| 3.2.2 RRC的纠错机制 | 第28-29页 |
| 3.3 本章小结 | 第29-30页 |
| 第四章 认证系统及其抗老化设计 | 第30-42页 |
| 4.1 SRAM PUFs在认证中的缺陷 | 第30-31页 |
| 4.2 基于SRAM PUFs的高可靠性认证系统设计 | 第31-37页 |
| 4.2.1 认证系统的安全性设计 | 第32-34页 |
| 4.2.2 认证系统的可靠性设计 | 第34-37页 |
| 4.3 SRAM PUFs测试平台 | 第37-40页 |
| 4.4 本章小结 | 第40-42页 |
| 第五章 功能验证及结果分析 | 第42-54页 |
| 5.1 SRAM PUFs节点分类测试 | 第42-44页 |
| 5.2 随机性测试 | 第44-47页 |
| 5.3 可靠性测试 | 第47-50页 |
| 5.3.1 CVC环测试 | 第48-49页 |
| 5.3.2 覆盖率测试 | 第49-50页 |
| 5.4 最小熵测试 | 第50-53页 |
| 5.5 本章小结 | 第53-54页 |
| 第六章 总结与展望 | 第54-56页 |
| 6.1 总结 | 第54页 |
| 6.2 展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-60页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60页 |