CTCS-3级列控仿真系统测试方法及其子系统测试应用研究
致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7页 |
1 绪论 | 第10-14页 |
1.1 课题研究的背景及意义 | 第10-11页 |
1.2 国内外研究现状 | 第11-12页 |
1.3 论文主要研究内容及各章节安排 | 第12-14页 |
2 CTCS-3级列控系统测试方法 | 第14-24页 |
2.1 软件测试方法概述 | 第14-17页 |
2.1.1 软件测试分类及过程 | 第14-16页 |
2.1.2 测试案例生成方法 | 第16-17页 |
2.2 CTCS-3级列控系统及其测试方法 | 第17-23页 |
2.2.1 CTCS-3级列控系统概述 | 第18-21页 |
2.2.2 CTCS-3级列控系统的测试方法 | 第21-23页 |
2.3 本章小结 | 第23-24页 |
3 列控仿真系统测试需求分析 | 第24-47页 |
3.1 列控仿真系统概述 | 第24-26页 |
3.2 列控仿真系统测试策略 | 第26-29页 |
3.3 列控仿真系统关键子系统需求分析 | 第29-33页 |
3.3.1 列控中心测试需求 | 第29-32页 |
3.3.2 临时限速服务器测试需求 | 第32页 |
3.3.3 计算机联锁测试需求 | 第32-33页 |
3.4 关键子系统测试案例生成 | 第33-46页 |
3.4.1 关键子系统测试案例生成 | 第33-38页 |
3.4.2 部分功能点测试结果分析 | 第38-46页 |
3.5 本章小结 | 第46-47页 |
4 列控仿真系统关键子系统测试实现 | 第47-62页 |
4.1 测试方案建模 | 第47-49页 |
4.2 具体测试流程设计 | 第49-52页 |
4.3 应答器测试环境的搭建与测试数据的准备 | 第52-57页 |
4.3.1 测试环境搭建 | 第52-53页 |
4.3.2 测试数据准备 | 第53-57页 |
4.4 应答器子系统测试实现 | 第57-61页 |
4.5 本章小结 | 第61-62页 |
5 总结与展望 | 第62-63页 |
5.1 总结 | 第62页 |
5.2 展望 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-65页 |
图索引 | 第65-67页 |
表索引 | 第67-68页 |
作者简历及攻读硕士/博士学位期间取得的研究成果 | 第68-70页 |
学位论文数据集 | 第70页 |