| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 引言 | 第10-21页 |
| ·临界装置中子能谱测量的意义 | 第10-12页 |
| ·临界装置简介 | 第10-11页 |
| ·临界装置中子能谱测量的重要性 | 第11-12页 |
| ·临界装置中子能谱测量的发展和现状 | 第12-16页 |
| ·SPR-Ⅲ | 第13-14页 |
| ·Godiva | 第14-15页 |
| ·CFBR-Ⅱ | 第15-16页 |
| ·临界装置中子能谱测量方法概述 | 第16-19页 |
| ·~6Li反应法 | 第16-17页 |
| ·~3He反应法 | 第17-18页 |
| ·活化法 | 第18-19页 |
| ·现有条件 | 第19页 |
| ·论文结构 | 第19-21页 |
| 第二章 临界装置的中子能谱分析 | 第21-31页 |
| ·纯裂变谱 | 第21-22页 |
| ·快中子临界装置的中子能谱 | 第22-24页 |
| ·分能段测量中子注量率 | 第24-30页 |
| ·探测器 | 第25-26页 |
| ·实验测量及结果 | 第26-27页 |
| ·分析和讨论 | 第27-30页 |
| ·小结 | 第30-31页 |
| 第三章 活化法测量中子能谱 | 第31-50页 |
| ·基本原理及解谱方法 | 第32-35页 |
| ·活化法基本原理 | 第32-33页 |
| ·活化法的解谱方法 | 第33-35页 |
| ·实验 | 第35-46页 |
| ·活化箔选择 | 第35-37页 |
| ·实验过程 | 第37-39页 |
| ·实验结果 | 第39-45页 |
| ·分析与讨论 | 第45-46页 |
| ·活化箔的单核反应率测量不确定度分析 | 第46-47页 |
| ·造成能谱测量不确定的因素分析及改进建议 | 第47-48页 |
| ·中子能谱不确定度基本定义 | 第47-48页 |
| ·活化法测量中子能谱的不确定度主要来源 | 第48页 |
| ·小结 | 第48-50页 |
| 第四章 球形~3HE计数管测量快中子临界装置中子能谱实验设计 | 第50-58页 |
| ·原理 | 第51页 |
| ·单能中子响应函数测量实验 | 第51-56页 |
| ·探测器 | 第51-52页 |
| ·响应函数测量实验设计 | 第52-53页 |
| ·实验测量 | 第53-54页 |
| ·测量结果 | 第54-56页 |
| ·分析和临界装置能谱实验设计 | 第56-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| 第五章 结论与展望 | 第58-61页 |
| ·结论 | 第58-59页 |
| ·进步与创新 | 第59页 |
| ·问题与展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-68页 |
| 附录：发表学术论文与参加学术交流情况 | 第68-69页 |
| 附录A：攻读硕士期间发表的学位论文 | 第68页 |
| 附录B：攻读硕士期间参加的学术交流会议 | 第68-69页 |
| 附录C：攻读硕士期间参加的学术报告 | 第69页 |