面向精密测量的自校准技术研究
| 致谢 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-13页 |
| 1 绪论 | 第13-18页 |
| ·研究的背景及意义 | 第13-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·本文的主要内容 | 第16-17页 |
| ·本文的创新点 | 第17-18页 |
| 2 自校准技术的理论基础 | 第18-25页 |
| ·误差分离原理概述 | 第18-19页 |
| ·最小二乘法的基本原理 | 第19-22页 |
| ·最小二乘法原理 | 第20页 |
| ·最小二乘法线性参数方程与矩阵的转换 | 第20-22页 |
| ·组合测量基本原理 | 第22-24页 |
| ·组合测量原理 | 第22-23页 |
| ·组合测量的最小二乘法处理 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 一维自校准技术研究 | 第25-38页 |
| ·一维自校准技术的原理 | 第25-29页 |
| ·一维自校准技术变量定义 | 第25-27页 |
| ·一维自校准技术三位置的数学模型 | 第27-29页 |
| ·一维自校准技术仿真结果 | 第29-31页 |
| ·无随机噪声时一维自校准技术的仿真结果 | 第30页 |
| ·有随机噪声时一维自校准技术的仿真结果 | 第30-31页 |
| ·一维自校准技术在影像测量仪中的应用 | 第31-33页 |
| ·一维自校准技术在线纹尺校准中的应用 | 第33-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 4 二维自校准技术研究 | 第38-55页 |
| ·二维自校准技术的原理 | 第38-43页 |
| ·二维自校准技术中的变量定义 | 第38-40页 |
| ·二维自校准技术的数学模型建立 | 第40-41页 |
| ·二维自校准技术的三位置测量模型 | 第41-43页 |
| ·二维自校准技术仿真分析 | 第43-48页 |
| ·二维自校准技术中测量数据转换模型 | 第48-50页 |
| ·二维自校准技术在影像测量仪误差分离中的应用 | 第50-53页 |
| ·实验设备 | 第50-51页 |
| ·实验步骤 | 第51-52页 |
| ·实验结果 | 第52-53页 |
| ·本章小结 | 第53-55页 |
| 5 自校准技术中参数条件限制及不同组合的影响研究 | 第55-63页 |
| ·二维自校准技术中角度参数偏差研究 | 第55-58页 |
| ·二维自校准技术中平移参数偏差研究 | 第58-60页 |
| ·二维自校准技术中不同位置组合研究 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 6 自校准技术在平面度评定中的应用研究 | 第63-74页 |
| ·自校准算法在平面度应用中模型的建立 | 第63-66页 |
| ·变量定义 | 第63-64页 |
| ·方程组的建立 | 第64-66页 |
| ·基于自校准算法的平面度评定仿真分析 | 第66-72页 |
| ·仿真参数设定 | 第66-69页 |
| ·无随机噪声时仿真分析 | 第69-71页 |
| ·有随机噪声时仿真分析 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-74页 |
| 7 总结与展望 | 第74-76页 |
| ·研究总结 | 第74页 |
| ·工作展望 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-80页 |
| 作者简历 | 第80-81页 |
