摘要 | 第1-8页 |
ABSTRACT | 第8-12页 |
第1章 绪论 | 第12-19页 |
·问题的提出以及选题意义 | 第12-14页 |
·课题国内外研究现状以及待解决的问题 | 第14-18页 |
·国内外研究现状 | 第14-17页 |
·待解决的问题 | 第17-18页 |
·本文所论述的主要内容 | 第18-19页 |
第2章 电晕放电强度紫外成像量化——光子数统计数值作为量化参数 | 第19-51页 |
·工频电压下极不均匀电场空气间隙电晕放电紫外成像试验研究 | 第19-29页 |
·"针—板"间隙1工频电压下电晕放电紫外成像试验研究 | 第20-23页 |
·"针—板"间隙2工频电压下电晕放电紫外成像试验研究 | 第23-24页 |
·"棒—板"间隙1工频电压下电晕放电紫外成像试验研究 | 第24-25页 |
·"棒—板"间隙2工频电压下电晕放电紫外成像试验研究 | 第25-27页 |
·试验结果分析与讨论 | 第27-29页 |
·电气设备外绝缘电晕放电特征及紫外成像检测试验研究 | 第29-49页 |
·110kV支柱绝缘子工频电压下电晕放电紫外成像试验研究 | 第29-33页 |
·不同人工污秽等级下110kV支柱绝缘子工频电压下电晕放电紫外成像对比试验研究 | 第33-39页 |
·不均匀污秽(半污秽半清洁)和清洁110kV支柱绝缘子均在湿状态电晕放电紫外成像试验结果 | 第39-42页 |
·复合绝缘子两端无均压环电晕放电紫外成像试验结果 | 第42-44页 |
·复合绝缘子有表面裂纹在工频电压下电晕放电紫外成像试验结果 | 第44-47页 |
·110kV劣化悬式瓷绝缘子串工频电压下电晕放电紫外成像试验研究 | 第47-49页 |
·紫外成像现场检测技术 | 第49-50页 |
·本章小结 | 第50-51页 |
第3章 电晕放电紫外成像检测的理论依据 | 第51-62页 |
·经典气体放电理论对电气设备外绝缘表面放电过程的解释 | 第52-54页 |
·空气放电时的等离子体辐射 | 第54-56页 |
·等离子体物理对气体放电过程的解释 | 第56-58页 |
·光子学材料科学对外绝缘放电时伴随现象的解释 | 第58页 |
·电气设备外绝缘电位分布和紫外辐射的关系 | 第58-61页 |
·本章小结 | 第61-62页 |
第4章 电晕紫外成像的数字图像处理 | 第62-78页 |
·基于虚拟仪器技术的电晕紫外成像分析系统构成 | 第64-66页 |
·虚拟仪器 | 第64-65页 |
·Labview语言 | 第65页 |
·IMAQ(Imaging Acquisition)Vision图像处理模块 | 第65-66页 |
·图像处理技术 | 第66-70页 |
·卷积内核 | 第66-67页 |
·空间滤波器 | 第67-70页 |
·图像分割技术 | 第70-73页 |
·颗粒测量技术 | 第73-75页 |
·本课题采用的图像处理流程及实现效果 | 第75-77页 |
·本章小结 | 第77-78页 |
第5章 棒-板模型交流电晕放电的紫外数字图像处理及其应用判据 | 第78-91页 |
·测试模型、装置与方法 | 第78-80页 |
·测试结果及其分析 | 第80-90页 |
·不同间隙同距离测试结果讨论 | 第80-85页 |
·不同距离同间隙测试结果讨论 | 第85-87页 |
·高压电气设备电晕放电紫外成像应用判据提出 | 第87-90页 |
·本章小结 | 第90-91页 |
第6章 结论与展望 | 第91-94页 |
·结论 | 第91-93页 |
·展望 | 第93-94页 |
致谢 | 第94-95页 |
参考文献 | 第95-100页 |
附录 | 第100-101页 |
A 作者在攻读博士学位期间发表的学术论文(数据源来自武汉大学图书馆检索报告) | 第100-101页 |
B 作者在攻读博士学位期间所做课题以及获得的科技成果奖励 | 第101页 |