| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-9页 |
| 主要符号对照表 | 第9-10页 |
| 第1章 引言 | 第10-21页 |
| ·课题背景 | 第11-14页 |
| ·汤姆逊散射 X 射线源 | 第11-13页 |
| ·直线加速器 RF 系统对电子束影响 | 第13-14页 |
| ·低电平控制系统发展历史与趋势 | 第14-19页 |
| ·KEK B-Factory（KEKB）模拟低电平控制系统 | 第15-16页 |
| ·BEPCII 直线加速器相位控制系统 | 第16页 |
| ·European XFEL 数字低电平控制系统 | 第16-17页 |
| ·上海光源数字低电平系统 | 第17-18页 |
| ·浦项工大 PAL XFEL 低电平控制系统 | 第18-19页 |
| ·低电平控制系统的发展总结与展望 | 第19页 |
| ·论文的主要工作及意义 | 第19-20页 |
| ·小结 | 第20-21页 |
| 第2章 TTX 高频系统建模与仿真研究 | 第21-43页 |
| ·TTX 高频系统组成 | 第21-28页 |
| ·谐振腔 | 第22-26页 |
| ·功率放大模块 | 第26-27页 |
| ·高频信号传输 | 第27-28页 |
| ·比例-加-积分控制器 | 第28页 |
| ·TTX 控制模型分析 | 第28-34页 |
| ·系统传输特性分析 | 第28-30页 |
| ·无延时下系统响应特性 | 第30页 |
| ·脉内负反馈小延时系统响应特性 | 第30-33页 |
| ·脉间负反馈大延时系统响应特性 | 第33-34页 |
| ·基于 VPI 的低电平控制系统仿真 | 第34-41页 |
| ·各系统离散模型建立 | 第34-39页 |
| ·系统仿真与结果 | 第39-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 第3章 TTX 数字低电平控制系统研究 | 第43-72页 |
| ·数字算法研究 | 第43-61页 |
| ·高频信号幅度相位测量基础 | 第43-44页 |
| ·IQ 正交解调 | 第44-47页 |
| ·数字下变频（DDC）IQ 解调方式 | 第47-48页 |
| ·Non-IQ 解调方式 | 第48-52页 |
| ·Non-IQ 解调对 TTX 的适用性讨论 | 第52-55页 |
| ·坐标旋转数字计算机 | 第55-61页 |
| ·FPGA 内部固件及上位机软件 | 第61-64页 |
| ·FPGA 内部固件代码 | 第61-62页 |
| ·上位机软件界面 | 第62-64页 |
| ·硬件设计 | 第64-71页 |
| ·FPGA 测控开发板 | 第64-66页 |
| ·时钟分布模块 | 第66-68页 |
| ·射频输入输出前端 | 第68-69页 |
| ·速调管高压测量模块 | 第69-71页 |
| ·整体机箱 | 第71页 |
| ·小结 | 第71-72页 |
| 第4章 系统性能测试及现场应用情况 | 第72-88页 |
| ·实验室离线测试实验 | 第72-78页 |
| ·FPGA 开发板 ADC 基本性能测试 | 第72-73页 |
| ·FPGA 开发板相位测量性能测试 | 第73-76页 |
| ·低电平控制系统离线开、闭环测试 | 第76-78页 |
| ·低电平控制系统在线测试实验 | 第78-83页 |
| ·在线实验测试系统 | 第78页 |
| ·低电平控制系统在线开、闭环测试 | 第78-80页 |
| ·高压前馈实验 | 第80-83页 |
| ·低电平控制系统偏转腔验证实验 | 第83-86页 |
| ·偏转腔基本原理 | 第83-84页 |
| ·偏转腔验证实验结构与结果 | 第84-86页 |
| ·系统现场应用情况 | 第86-87页 |
| ·小结 | 第87-88页 |
| 第5章 结论与展望 | 第88-90页 |
| ·课题工作总结及意义 | 第88页 |
| ·课题主要创新点 | 第88-89页 |
| ·后续工作展望 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-94页 |
| 致谢 | 第94-96页 |
| 个人简历、在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第96页 |