摘要 | 第1-6页 |
Abstract | 第6-12页 |
第1章 绪论 | 第12-18页 |
·课题研究的背景及来源 | 第12-13页 |
·课题研究的目的和意义 | 第13-14页 |
·测试技术及机床主轴箱试车测试的现状及发展 | 第14-16页 |
·测试技术的发展与应用现状 | 第14-15页 |
·主轴箱轴承运行温度测试的现状及发展趋势 | 第15页 |
·主轴箱轴承异常声测试的现状及发展趋势 | 第15-16页 |
·论文主要研究的内容 | 第16-18页 |
第2章 数控车床主轴箱轴承温升及异常声的理论分析 | 第18-30页 |
·HTC20系列数控车床主轴箱的结构 | 第18-19页 |
·数控车床主轴箱滚动轴承的特性及常见故障 | 第19-20页 |
·滚动轴承的运动学关系 | 第19页 |
·数控车床主轴箱滚动轴承常见故障 | 第19-20页 |
·HTC20系列数控车床主轴箱轴承温升原因及测试方法 | 第20-22页 |
·主轴箱滚动轴承温升的产生原因 | 第20-21页 |
·滚动轴承温升的测试方法 | 第21-22页 |
·HTC20系列主轴箱轴承异常声的理论分析 | 第22-30页 |
·主轴箱轴承异常声的测试方法 | 第22-23页 |
·主轴箱轴承异常声与振动的关系 | 第23-24页 |
·滚动轴承异常声产生原因的理论与建模分析 | 第24-26页 |
·滚动轴承异常声原因的分析 | 第26-30页 |
第3章 测试系统总体分析与硬件设计 | 第30-46页 |
·HTC20系列数控车床主轴箱测试工序及要求 | 第30页 |
·主轴箱的测试工序 | 第30页 |
·主轴箱的测试要求 | 第30页 |
·测试系统的功能分析与方案设计 | 第30-34页 |
·测试系统的功能分析 | 第30-31页 |
·测试系统的方案设计 | 第31-32页 |
·被测信号的分析 | 第32-33页 |
·模拟信号的连接方式 | 第33-34页 |
·测试系统硬件实现的关键技术 | 第34-39页 |
·传感器设备 | 第34-35页 |
·数据采集设备 | 第35-36页 |
·调速方法的选择与频率给定 | 第36-38页 |
·停车及报警功能 | 第38-39页 |
·测试系统的硬件结构与选型 | 第39-44页 |
·测试系统的硬件结构 | 第39-40页 |
·传感器的选型与安装 | 第40-41页 |
·数据采集卡 | 第41-43页 |
·工控机 | 第43页 |
·电动机与变频器 | 第43-44页 |
·硬件抗干扰的措施 | 第44-46页 |
·干扰的产生 | 第44页 |
·抗干扰的措施 | 第44-46页 |
第4章 温度和异常声信号的分析方法 | 第46-54页 |
·温度信号分析方法 | 第46-47页 |
·固定门限检测法 | 第46页 |
·变化率检测法 | 第46-47页 |
·异常声信号分析方法 | 第47-54页 |
·幅域分析方法 | 第47-50页 |
·频域分析方法 | 第50-54页 |
第5章 软件结构与LabVIEW程序设计 | 第54-76页 |
·LabVIEW与DAQmx概述 | 第54-58页 |
·LabVIEW介绍与特点 | 第54-55页 |
·DAQmx的基本概念 | 第55-56页 |
·LabVIEW的工作过程 | 第56-58页 |
·测试系统的软件结构与测试流程 | 第58-59页 |
·测试系统的软件结构 | 第58页 |
·测试系统的具体流程 | 第58-59页 |
·DAQmx数据采集程序设计 | 第59-64页 |
·采样过程与采样定理 | 第59-61页 |
·信号采集的参数设置 | 第61页 |
·温度模拟信号采集程序 | 第61-63页 |
·振动和转速信号采集程序 | 第63-64页 |
·模拟与数字输出信号程序 | 第64页 |
·用户界面的设计 | 第64-67页 |
·用户界面设计的基本思想 | 第64-65页 |
·用户界面的设计 | 第65-67页 |
·LabVIEW程序的设计 | 第67-72页 |
·信号处理与报表生成函数 | 第67-68页 |
·系统登陆程序模块 | 第68-69页 |
·主测试界面选择模块 | 第69页 |
·温度信号分析模块 | 第69-70页 |
·异常声信号分析模块 | 第70-71页 |
·测试报告的生成模块 | 第71页 |
·测试系统程序的发布 | 第71-72页 |
·温度和异常声信号的仿真测试 | 第72-76页 |
·程序的测试流程 | 第72-73页 |
·温度信号的仿真测试 | 第73页 |
·异常声信号的仿真测试 | 第73-75页 |
·测试报告的生成 | 第75-76页 |
第6章 结论与展望 | 第76-78页 |
·结论 | 第76页 |
·展望 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-82页 |
致谢 | 第82-84页 |
附录 | 第84页 |