| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-11页 |
| ·交流电磁场检测技术简介 | 第8页 |
| ·交流电磁场检测技术的国内外研究现状 | 第8-10页 |
| ·课题的研究内容 | 第10页 |
| ·本章小结 | 第10-11页 |
| 第2章 交流电磁场检测技术的原理与有限元仿真模型 | 第11-31页 |
| ·交流电磁场检测技术的原理 | 第11-13页 |
| ·交变电磁场检测技术的数学模型 | 第13-16页 |
| ·交流电磁场检测技术的有限元仿真分析 | 第16-29页 |
| ·交流电磁场检测技术的有限元仿真模型 | 第16-19页 |
| ·ACFM 信号的分布特征与试件裂纹缺陷对应关系分析 | 第19-24页 |
| ·影响扰动磁场检测灵敏度的其他相关因素分析 | 第24-29页 |
| ·本章小结 | 第29-31页 |
| 第3章 交流电磁场检测仪的硬件系统设计 | 第31-53页 |
| ·硬件系统设计概述 | 第31-32页 |
| ·检测探头 | 第32-36页 |
| ·检测探头的结构 | 第32-33页 |
| ·检测传感器的选择 | 第33-36页 |
| ·信号调理电路 | 第36-43页 |
| ·信号调理电路的结构特征 | 第36页 |
| ·低噪声程控放大电路 | 第36-38页 |
| ·自适应带通滤波电路 | 第38-40页 |
| ·增益可调放大电路 | 第40-41页 |
| ·真有效值变换电路 | 第41-43页 |
| ·基于 MSP430 的下位机控制电路 | 第43-47页 |
| ·MSP430 系列超低功耗 16 位混合信号处理器 | 第43-45页 |
| ·基于 MSP430 的按键电路 | 第45-46页 |
| ·基于 MSP430 的 TFT 液晶接口 | 第46页 |
| ·基于 MSP430 的 SD 卡接口 | 第46页 |
| ·基于 MSP430 的 RS232 电路 | 第46-47页 |
| ·无线信号传输电路和编码器电路 | 第47-50页 |
| ·激励信号源电路 | 第50-51页 |
| ·功率放大电路 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-53页 |
| 第4章 交流电磁场检测仪的软件系统设计 | 第53-59页 |
| ·软件系统概述 | 第53页 |
| ·基于 C 语言编写的下位机控制程序 | 第53-55页 |
| ·基于 Labview 编写的上位机程序 | 第55-58页 |
| ·基于 LabVIEW 的上位机软件界面 | 第56-57页 |
| ·基于 LabVIEW 的缺陷反演计算界面 | 第57页 |
| ·数据帧头检测程序 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第5章 交流电磁场检测仪的应用 | 第59-66页 |
| ·不同材料属性的人工缺陷槽工件检测 | 第59-61页 |
| ·空气压缩罐环形焊缝和垂直焊缝的现场检测 | 第61-65页 |
| ·上部环形焊缝中的缺陷 | 第62-63页 |
| ·中部垂直方向焊缝上的缺陷 | 第63-64页 |
| ·下部环形焊缝上的缺陷 | 第64-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第6章 交流电磁场缺陷定量评定的综合参数系统 | 第66-71页 |
| ·交流电磁场缺陷定量评定综合参数系统概述 | 第66页 |
| ·矩形缺陷磁场扰动量与缺陷物理特征的关系 | 第66-70页 |
| ·非铁磁性材料 ACFM 检测扰动量与矩形缺陷物理特征的关系 | 第67-70页 |
| ·非铁磁性材料 ACFM 检测的长度与深度计算依据 | 第70页 |
| ·本章小结 | 第70-71页 |
| 第7章 结论与展望 | 第71-73页 |
| ·结论 | 第71-72页 |
| ·展望 | 第72-73页 |
| 参考文献 | 第73-76页 |
| 作者在读期间科研情况说明 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-78页 |
