宽通带的频率选择表面研究
致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-9页 |
第一章 绪论 | 第9-14页 |
·研究背景与基本特性 | 第9页 |
·频率选择表面的研究进展 | 第9-11页 |
·频率选择表面的应用 | 第11-14页 |
第二章 频率选择表面的基本理论与特性 | 第14-32页 |
·频率选择表面的基本理论 | 第14-22页 |
·Floquet定理及栅瓣现象 | 第14-17页 |
·频率选择表面分析方法—谱域法 | 第17-22页 |
·频率选择表面的基本特性 | 第22-31页 |
·入射角稳定性 | 第23-25页 |
·交叉极化特性 | 第25-26页 |
·介质层对频率选择表面的影响 | 第26-31页 |
·小结 | 第31-32页 |
第三章 基片集成频率选择表面 | 第32-45页 |
·单通带基片集成频率选择表面 | 第32-40页 |
·极化相关SIWC-FSS结构设计 | 第32-34页 |
·极化不相关SIWC-FSS结构设计 | 第34-36页 |
·SIWC-FSS加工测试 | 第36-40页 |
·双通带基片集成频率选择表面 | 第40-44页 |
·小结 | 第44-45页 |
第四章 混合边界腔体的频率选择表面 | 第45-53页 |
·混合边界腔体FSS的单元结构分析 | 第45-46页 |
·混合边界腔体FSS结构设计 | 第46-52页 |
·小结 | 第52-53页 |
第五章 宽通带的混合边界腔体FSS | 第53-65页 |
·改变参数尺寸 | 第53-55页 |
·增加锯齿结构 | 第55-56页 |
·增加梯形缝隙 | 第56-63页 |
·小结 | 第63-65页 |
第六章 总结与展望 | 第65-66页 |
参考文献 | 第66-70页 |
研究成果 | 第70页 |