模拟电路测试生成及故障诊断的研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-32页 |
| ·论文研究背景 | 第13-14页 |
| ·电子系统测试生成及故障诊断的意义和发展概况 | 第14-21页 |
| ·电子系统测试生成及故障诊断的意义 | 第14-16页 |
| ·电子系统测试生成及故障诊断的发展和现状 | 第16-21页 |
| ·模拟电路测试生成及故障诊断技术概述 | 第21-26页 |
| ·相关技术的发展 | 第21-25页 |
| ·技术发展的瓶颈及现有技术的不足 | 第25-26页 |
| ·本文的主要内容及结构安排 | 第26-32页 |
| 第二章 基于SVM 的测试生成方法 | 第32-58页 |
| ·测试生成概述 | 第32-41页 |
| ·SVM 训练过程 | 第34-36页 |
| ·SVM 测试生成算法 | 第36-38页 |
| ·实例分析 | 第38-41页 |
| ·压缩响应向量长度 | 第41-48页 |
| ·基于k-近邻算法的压缩方法 | 第43-44页 |
| ·基于样本均值的压缩方法 | 第44-45页 |
| ·实例分析 | 第45-48页 |
| ·压缩测试信号集 | 第48-53页 |
| ·理论分析 | 第48-50页 |
| ·算法流程 | 第50页 |
| ·实例分析 | 第50-53页 |
| ·优化测试信号集 | 第53-56页 |
| ·优化测试信号集方法 | 第53-55页 |
| ·实例分析 | 第55-56页 |
| ·本章小节 | 第56-58页 |
| 第三章 多频测试生成算法 | 第58-77页 |
| ·多频测试生成算法概述 | 第58页 |
| ·改进故障模型的多频测试生成 | 第58-67页 |
| ·故障模型 | 第58-59页 |
| ·算法流程 | 第59-63页 |
| ·实例分析 | 第63-67页 |
| ·基于遗传算法的多频测试生成 | 第67-72页 |
| ·遗传算法概述 | 第67-68页 |
| ·特征值的选取 | 第68页 |
| ·实例分析 | 第68-72页 |
| ·多频测试生成算法在集成电路中的应用 | 第72-76页 |
| ·测试生成在集成电路中的应用分析 | 第72-73页 |
| ·实例分析 | 第73-76页 |
| ·本章小节 | 第76-77页 |
| 第四章 模拟电路故障检测技术 | 第77-94页 |
| ·故障检测技术概述 | 第77-79页 |
| ·基于SVM 的故障检测 | 第79-81页 |
| ·特征空间的建立 | 第79-80页 |
| ·分类器的应用 | 第80-81页 |
| ·特征选择 | 第81-90页 |
| ·特征选择概述 | 第81-83页 |
| ·熵的定义及应用 | 第83-84页 |
| ·特征选择算法 | 第84-90页 |
| ·实例分析 | 第90-92页 |
| ·本章小节 | 第92-94页 |
| 第五章 模拟电路故障定位技术 | 第94-126页 |
| ·故障定位技术概述 | 第94-95页 |
| ·非线性CCM 故障定位算法 | 第95-103页 |
| ·非线性模型 | 第96-97页 |
| ·改进型CCM 故障定位方法 | 第97-99页 |
| ·实例分析 | 第99-103页 |
| ·分层次CCM 故障定位算法 | 第103-112页 |
| ·分层次建模 | 第104-105页 |
| ·实例分析 | 第105-112页 |
| ·基于敏感度分析算法的故障定位 | 第112-125页 |
| ·敏感度分析算法 | 第112-116页 |
| ·实例分析 | 第116-125页 |
| ·本章小结 | 第125-126页 |
| 第六章 总结与展望 | 第126-129页 |
| ·论文工作总结 | 第126-127页 |
| ·研究展望 | 第127-129页 |
| 致谢 | 第129-130页 |
| 参考文献 | 第130-138页 |
| 攻博期间取得的研究成果 | 第138-139页 |
