| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-10页 |
| 第一章 前言 | 第10-25页 |
| ·金刚石的发展及应用 | 第10-15页 |
| ·金刚石的发展 | 第10-14页 |
| ·金刚石的应用 | 第14-15页 |
| ·国内金刚石工业生产存在的问题 | 第15页 |
| ·立方氮化硼(cBN)的发展及应用 | 第15-25页 |
| ·cBN的发展 | 第15-17页 |
| ·聚晶立方氮化硼的发展 | 第17-20页 |
| ·金刚石、立方氮化硼复合片 | 第20-21页 |
| ·cBN的应用 | 第21-23页 |
| ·PcBN刀具材料在国内的应用前景及存在的问题 | 第23-24页 |
| ·本论文选题的目的 | 第24-25页 |
| 第二章 金刚石和立方氮化硼的结构与性能 | 第25-34页 |
| ·金刚石的结构 | 第25页 |
| ·立方氮化硼的结构 | 第25-26页 |
| ·金刚石和立方氮化硼的性质 | 第26-27页 |
| ·硬度和耐磨性 | 第26页 |
| ·热稳定性 | 第26-27页 |
| ·化学惰性大 | 第27页 |
| ·导热性好 | 第27页 |
| ·立方氮化硼与金刚石的对比 | 第27-34页 |
| ·在合成上的对比 | 第27-34页 |
| ·金刚石的合成 | 第27-28页 |
| ·立方氮化硼的合成 | 第28-34页 |
| 第三章 实验方法及过程 | 第34-38页 |
| ·对两面顶金刚石单晶的分析 | 第34-35页 |
| ·对金刚石单晶杂质的分析 | 第34页 |
| ·对金刚石耐热性的分析 | 第34-35页 |
| ·cBN-WC复合片烧结体的合成 | 第35-38页 |
| ·残余应力的分析 | 第35页 |
| ·显微硬度的分析 | 第35页 |
| ·抗弯强度(TRS)的分析 | 第35-38页 |
| 第四章 两面顶金刚石杂质和耐热性的分析 | 第38-60页 |
| ·基本理论 | 第38-39页 |
| ·金刚石单晶内杂质的分析 | 第39-48页 |
| ·中子活化分析金刚石内的杂质 | 第39-44页 |
| ·中子活化的基本原理 | 第39-41页 |
| ·绝对测量和相对测量 | 第39-40页 |
| ·干扰因子 | 第40页 |
| ·中子活化的特点 | 第40-41页 |
| ·实验结果及分析 | 第41-44页 |
| ·浓缩法分析金刚石内的杂质 | 第44-47页 |
| ·金刚石单晶内杂质的危害 | 第47-48页 |
| ·金刚石耐热性的分析 | 第48-58页 |
| ·热失重(TGA)和示差扫描量热(DSC)法的分析 | 第48-56页 |
| ·同一型号不同粒度的分析 | 第55页 |
| ·同一粒度不同型号的分析 | 第55-56页 |
| ·分析与讨论 | 第56页 |
| ·热侵蚀后的形貌分析 | 第56-57页 |
| ·静压强度的测量和TI、TTI的测量 | 第57-58页 |
| ·与GE的产品对比 | 第58页 |
| ·金刚石表面镀镍后的分析 | 第58-59页 |
| ·结论 | 第59-60页 |
| 第五章 PcBN+WC-CO复合片的研究 | 第60-84页 |
| ·各元素的扩散 | 第66-68页 |
| ·烧结机理 | 第68-71页 |
| ·PcBN层金属线的出现 | 第71页 |
| ·分层现象 | 第71-72页 |
| ·cBN层残余应力的分析 | 第72-76页 |
| ·X射线衍射sin~2Ψ法测量残余应力 | 第72-75页 |
| ·实验结果的分析讨论 | 第75-76页 |
| ·复合片显微硬度的检测 | 第76-80页 |
| ·压头的选用 | 第77-79页 |
| ·PcBN复合片硬度的测量 | 第79-80页 |
| ·抗弯强度(TRS)的测量 | 第80-82页 |
| ·小结 | 第82-84页 |
| 第六章 总结 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-90页 |
| 攻读硕士期间发表得论文 | 第90-92页 |
| 致谢 | 第92页 |