基于IVI技术仪器仪表自动检定系统的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-16页 |
| ·现代仪器仪表现状 | 第8-11页 |
| ·仪器仪表的四个阶段 | 第9-10页 |
| ·现代仪表的发展方向 | 第10-11页 |
| ·国内外研究现状及趋势 | 第11-14页 |
| ·自动检定系统的现状 | 第11-13页 |
| ·自动检定系统的趋势 | 第13-14页 |
| ·基于IVI 构建的自动测试系统 | 第14-15页 |
| ·课题的来源以及其内容 | 第15-16页 |
| 第二章 仪器总线技术 | 第16-29页 |
| ·总线技术 | 第16页 |
| ·外部总线 | 第16-22页 |
| ·GPIB 总线 | 第16-20页 |
| ·LXI 总线技术 | 第20-22页 |
| ·其他外部总线 | 第22页 |
| ·内部总线 | 第22-27页 |
| ·PXI 总线 | 第23-24页 |
| ·VXI 总线 | 第24-26页 |
| ·其他总线技术 | 第26-27页 |
| ·混合总线 | 第27-29页 |
| ·混合总线技术 | 第27-28页 |
| ·混合总线测试系统 | 第28-29页 |
| 第三章 可互换虚拟仪器技术研究 | 第29-42页 |
| ·VXI 总线即插即用规范 | 第29-33页 |
| ·VXI 即插即用的指导原则 | 第29-30页 |
| ·VPP 的核心技术 | 第30页 |
| ·VPP 仪器驱动器 | 第30-33页 |
| ·虚拟仪器软件体系VISA | 第33-38页 |
| ·VISA 的结构与特点 | 第34-35页 |
| ·VISA 的资源结构 | 第35-36页 |
| ·VISA 中的三种机制 | 第36-37页 |
| ·VISA 的数据类型 | 第37-38页 |
| ·IVI 技术研究及应用 | 第38-42页 |
| ·IVI 的技术特点 | 第39页 |
| ·IVI 体系结构 | 第39-40页 |
| ·IVI 驱动器功能组 | 第40页 |
| ·仪器互换性的实现 | 第40-42页 |
| 第四章 自动测试系统的构建思想及架构 | 第42-49页 |
| ·系统的开放性与通用性 | 第42页 |
| ·仪器仪表自动测试系统需求 | 第42-43页 |
| ·仪器仪表自动测试系统的架构 | 第43-49页 |
| ·系统总体架构分析 | 第43-44页 |
| ·自动测试系统功能模块 | 第44-45页 |
| ·自动测试系统工作原理及流程 | 第45-49页 |
| 第五章 自动测试系统的设计与实现 | 第49-67页 |
| ·系统硬件配置 | 第49-52页 |
| ·总线控制器 | 第49-50页 |
| ·控制主机 | 第50-51页 |
| ·外围设备 | 第51页 |
| ·仪器仪表简介 | 第51-52页 |
| ·软件配置 | 第52-54页 |
| ·操作系统 | 第52页 |
| ·软件开发工具 | 第52-53页 |
| ·数据库的选择 | 第53-54页 |
| ·系统实现 | 第54-67页 |
| ·系统功能模块 | 第54-61页 |
| ·数据库设计 | 第61-67页 |
| 第六章 系统验证测试 | 第67-73页 |
| ·仪器检定功能测试 | 第67-69页 |
| ·软件维护测试 | 第69-73页 |
| 第七章 总结与展望 | 第73-75页 |
| 致谢 | 第75-76页 |
| 参考文献 | 第76-78页 |
| 攻硕期间取得的研究成果 | 第78-79页 |
