| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-35页 |
| ·磁记录薄膜的概况 | 第8-12页 |
| ·薄膜概述 | 第8-9页 |
| ·磁记录薄膜概述 | 第9-12页 |
| ·磁记录介质的影响因素 | 第12-26页 |
| ·磁记录介质的主要影响因素 | 第12-24页 |
| ·超高密度磁记录介质对影响因素的要求 | 第24-26页 |
| ·磁记录材料的发展历史及现状 | 第26-32页 |
| ·研究工作的背景与内容 | 第32-35页 |
| ·研究工作的背景 | 第32-34页 |
| ·研究工作的内容 | 第34-35页 |
| 第二章 实验方法 | 第35-51页 |
| ·薄膜的制备 | 第35-44页 |
| ·薄膜的制备工艺论述 | 第35-40页 |
| ·样品的制备过程 | 第40-44页 |
| ·薄膜的测试及原理 | 第44-51页 |
| ·磁性测量--振动样品磁强计 | 第44-45页 |
| ·晶体结构的测量-- X 射线衍射 | 第45-47页 |
| ·表面形貌及磁结构的测量--扫描探针显微镜 | 第47-50页 |
| ·成分的分析 | 第50-51页 |
| 第三章 实验内容 | 第51-76页 |
| ·Ti 层厚度对 Ti/Fe/Ti 薄膜微结构和磁性能的影响 | 第51-58页 |
| ·样品的制备及测试 | 第51-52页 |
| ·结果和讨论 | 第52-57页 |
| ·小结 | 第57-58页 |
| ·Fe 层厚度对 Ti/Fe/Ti 薄膜微结构和磁性能的影响 | 第58-63页 |
| ·样品的制备及测试 | 第58页 |
| ·结果和讨论 | 第58-62页 |
| ·小结 | 第62-63页 |
| ·退火温度(T_a)和基底温度(T_s)对 Ti /Fe/Ti 薄膜微结构和磁特性的影响 | 第63-70页 |
| ·样品的制备及测试 | 第63页 |
| ·结果和讨论 | 第63-68页 |
| ·小结 | 第68-70页 |
| ·Fe/Ti 双层薄膜的结构和磁性能的研究 | 第70-76页 |
| ·样品的制备及测试 | 第70页 |
| ·结果和讨论 | 第70-75页 |
| ·小结 | 第75-76页 |
| 第四章 结论 | 第76-78页 |
| 参考文献 | 第78-87页 |
| 硕士研究生期间发表论文情况 | 第87页 |
| 硕士期间参加会议情况 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88页 |
