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基于PXI/cPCI总线的高可靠自动测试系统的研究与实现

摘要第1-4页
ABSTRACT第4-8页
第一章 绪论第8-12页
   ·课题来源及意义第8页
   ·国内外同类可利用资源开发状况第8-9页
   ·研制测试系统所需的关键技术第9-10页
   ·本论文的研究内容和预期目标第10页
   ·论文结构安排第10-12页
第二章 测试系统概述第12-17页
   ·测试系统的硬件组成第12-13页
   ·测试原理第13-14页
   ·测试项目第14页
   ·测试系统核心模块的功能与技术指标第14-15页
     ·BMK接口模块的性能要求与技术指标第14页
     ·ARINC429通讯模块的性能要求与技术指标第14-15页
     ·CPU模拟模块的性能要求与技术指标第15页
     ·电源监控模块的性能要求与技术指标第15页
     ·频率代码模块的性能要求与技术指标第15页
   ·小结第15-17页
第三章 CompactPCI/PXI总线技术与实现第17-35页
   ·COMPACTPCI/PXI总线技术的产生和发展第17-18页
   ·COMPACTPCI及其特点第18-19页
     ·CompactPCI定义第18页
     ·机械结构特点第18-19页
     ·总线背板结构第19页
   ·PXI规范第19-24页
     ·PXI机械规范第20-21页
     ·PXI面向仪器领域的特性第21-24页
     ·PXI软件规范第24页
   ·热插拔技术第24-30页
     ·热插拔技术的基本概念第24-25页
     ·热插拔系统的级别第25-26页
     ·热插拔的基本技术问题第26-27页
     ·解决热插拔问题的方法第27-29页
     ·热插拔过程第29-30页
   ·COMPCACTPCI/PXI接口技术实现第30-34页
     ·方案选择第31-32页
     ·CompactPCI/PXI电气信号的连接第32-33页
     ·机械结构设计第33页
     ·连接器的选用第33-34页
   ·小结第34-35页
第四章 智能化 ARINC429通讯模块的设计与实现第35-45页
   ·智能化 ARINC429通讯模块组成第35-36页
   ·COMPACTPCI/PXI总线接口设计第36-37页
     ·设计方案选择第36页
     ·PCI9052介绍第36-37页
   ·ARM7微处理器介绍及选型第37-39页
   ·ARM微处理器与双口RAM的连接第39-40页
     ·电路连接方法第39页
     ·双口 RAM的互斥访问第39-40页
   ·ARM微处理器与 ARINC429协议芯片的连接第40-43页
     ·ARINC429协议芯片介绍第40-42页
     ·ARM与 ARINC429协议芯片的电路连接第42-43页
   ·小结第43-45页
第五章 全隔离电源监控模块的设计与实现第45-57页
   ·电源监控模块的功能和电路组成第45-46页
   ·COMPACTPCI/PXI总线接口设计与实现第46-47页
     ·设计方案选择第46页
     ·FPGA芯片选型第46页
     ·PCI总线接口逻辑第46-47页
   ·模拟电路部分的设计与实现第47-53页
     ·调理电路的设计与实现第47-49页
     ·比较电路的设计与实现第49-50页
     ·模拟隔离电路的设计与实现第50-51页
     ·AD转换电路的设计与实现第51-52页
     ·继电控制电路的设计与实现第52-53页
   ·FPGA控制逻辑的设计与实现第53-56页
     ·A/D转换器接口逻辑第53-54页
     ·过流过压欠压保护和通断控制逻辑第54-56页
   ·电源监测控制模块的自检与校准第56页
   ·小结第56-57页
第六章 其他测控模块的设计与实现第57-67页
   ·BMK接口模块的设计第57-63页
     ·BMK接口模块的收发时序第57-58页
     ·BMK接口模块的组成第58-59页
     ·BMK接口模块各功能电路设计第59-62页
     ·BMK接口模块的自检第62-63页
   ·CPU模拟模块设计第63-65页
     ·飞控计算机模拟模块的组成第63-64页
     ·CPU模拟模块各功能电路设计第64-65页
   ·频率代码模块设计第65-66页
     ·频率代码模块的组成第65-66页
     ·频率代码模块各功能电路的设计第66页
   ·小结第66-67页
第七章 软件设计概要第67-71页
   ·操作系统及编程语言环境的选择第67页
   ·设备驱动程序编制第67-68页
   ·设备自检和产品测试程序的功能和流程第68-69页
     ·设备自检程序的功能与自检过程第68-69页
     ·产品测试软件的功能与流程第69页
   ·小结第69-71页
第八章 总结与展望第71-72页
参考文献第72-74页
发表论文和参加科研情况说明第74-75页
 发表论文:第74页
 科研:第74-75页
致谢第75-76页
附录第76-77页

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