| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 第一章 引言 | 第12-18页 |
| ·锁相技术背景和频率综合研究现状 | 第12-13页 |
| ·环振型频率综合器研究目的 | 第13-14页 |
| ·论文主要内容和贡献 | 第14-15页 |
| ·论文的组织结构 | 第15-16页 |
| 参考文献 | 第16-18页 |
| 第二章 锁相环路综述 | 第18-44页 |
| ·相位的锁定和跟踪 | 第18-19页 |
| ·基本环路结构 | 第19-21页 |
| ·暂态输入响应 | 第21-27页 |
| ·环路稳定性 | 第27-35页 |
| ·劳斯—赫尔维茨判据 | 第28-29页 |
| ·开环波特图法 | 第29-32页 |
| ·闭环根轨迹法 | 第32-35页 |
| ·环路噪声特性 | 第35-37页 |
| ·相位噪声 | 第35-36页 |
| ·时域抖动 | 第36-37页 |
| ·电荷泵锁相环 | 第37-42页 |
| ·电荷泵锁相环(CP-PLL)结构 | 第37-39页 |
| ·模块介绍 | 第39-42页 |
| ·小结 | 第42页 |
| 参考文献 | 第42-44页 |
| 第三章 环形压控振荡器研究与设计 | 第44-78页 |
| ·环形振荡器基本原理 | 第44-45页 |
| ·压控环振延迟级结构 | 第45-58页 |
| ·单端延迟单元(倒相器) | 第45-46页 |
| ·差分延迟单元 | 第46-52页 |
| ·双输入延迟单元 | 第52-55页 |
| ·新型可选负载延迟单元设计 | 第55-58页 |
| ·振荡器的噪声模型 | 第58-69页 |
| ·Leeson模型 | 第59-60页 |
| ·Razavi模型 | 第60-66页 |
| ·DaiLiang模型 | 第66-69页 |
| ·应用新型延迟单元的VCO设计 | 第69-75页 |
| ·电路设计 | 第69-72页 |
| ·噪声估计和仿真 | 第72-75页 |
| ·小结 | 第75页 |
| 参考文献 | 第75-78页 |
| 第四章 自适应以太网环振型频率综合器设计 | 第78-100页 |
| ·以太网简介 | 第78-79页 |
| ·自适应以太网频率综合器系统结构 | 第79-81页 |
| ·环路参数确定和验证 | 第81-83页 |
| ·电路实现 | 第83-92页 |
| ·压控振荡器 | 第83-84页 |
| ·新型动态电压模相位内插电路 | 第84-90页 |
| ·鉴相器 | 第90页 |
| ·电荷泵 | 第90-91页 |
| ·数字部分 | 第91-92页 |
| ·芯片和测试验证 | 第92-98页 |
| ·示波器探头影响 | 第92-94页 |
| ·测试验证 | 第94-98页 |
| ·小结 | 第98页 |
| 参考文献 | 第98-100页 |
| 第五章 高频环振型频率综合器设计 | 第100-142页 |
| ·行为级设计 | 第100-111页 |
| ·环路参数设计流程 | 第100-103页 |
| ·环路噪声估计 | 第103-111页 |
| ·模块噪声传输 | 第103-105页 |
| ·VCO噪声估计 | 第105-106页 |
| ·电荷泵噪声估计 | 第106-109页 |
| ·其它模块噪声和总相位噪声 | 第109-111页 |
| ·电路级设计 | 第111-129页 |
| ·整体环路描述 | 第112-113页 |
| ·模块电路设计 | 第113-129页 |
| ·压控振荡器 | 第113页 |
| ·自动频率校准开关 | 第113-116页 |
| ·差分电荷泵 | 第116-120页 |
| ·共模反馈电路 | 第120-122页 |
| ·双端转单端(Differential-to-Single)模块 | 第122-125页 |
| ·电源调整器(Regulator)和带隙基准源 | 第125-126页 |
| ·分频器 | 第126-129页 |
| ·版图和测试验证 | 第129-138页 |
| ·版图设计考虑 | 第129-130页 |
| ·PCB设计考虑 | 第130-132页 |
| ·测试与分析 | 第132-138页 |
| ·功能测试 | 第132-134页 |
| ·直接抖动测试 | 第134-135页 |
| ·相位噪声测试 | 第135-137页 |
| ·性能比较 | 第137-138页 |
| ·小结 | 第138-139页 |
| 参考文献 | 第139-142页 |
| 第六章 总结和展望 | 第142-145页 |
| ·论文总结 | 第142-143页 |
| ·展望 | 第143页 |
| 参考文献 | 第143-145页 |
| 附录 示波器探头对测试的影响 | 第145-147页 |
| 发表作品列表 | 第147-149页 |
| 致谢 | 第149-150页 |