测试向量的自动生成及其功能验证环境

摘要	第1-7页
ABSTRACT	第7-12页
1 前言	第12-19页
·集成电路技术的发展及现状	第12-16页
·测试向量应用技术现状	第16-17页
·课题内容和论文结构	第17-19页
2 集成电路验证基本方法	第19-29页
·验证的重要性	第19-21页
·集成电路设计和验证流程	第21-22页
·验证方法与技术	第22-27页
·验证方法的选用	第27-29页
3 集成电路测试	第29-37页
·测试设备	第29-31页
·测试分类	第31-32页
·测试向量的种类	第32-35页
·测试基本原理	第35-37页
4 功能测试向量的格式	第37-47页
·功能测试的必要性	第37-38页
·测试向量的格式分类	第38-39页
·VCD 文件格式	第39-42页
·ATE 测试向量	第42-47页
5 功能验证环境	第47-57页
·验证计划的制定	第47-48页
·测试激励	第48-49页
·自核对式测试平台	第49-51页
·测试向量的验证	第51-52页
·测试平台的构建	第52-54页
·测试向量的优化	第54-55页
·测试向量提交	第55-56页
·测试结果	第56-57页
6 结束语	第57-59页
·总结	第57-58页
·展望	第58-59页
参考文献	第59-61页
致谢	第61-62页
攻读学位期间发表的学术论文	第62页