基于彩色及近红外双CCD的炉内工件表面温度全视场监视系统
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-7页 |
目录 | 第7-9页 |
绪论 | 第9-13页 |
1 课题背景 | 第9页 |
2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
3 论文的创新之处 | 第12-13页 |
第一章 比色测温法 | 第13-25页 |
·高温测温综述 | 第13-14页 |
·接触式测温方法 | 第13-14页 |
·非接触式测温方法 | 第14页 |
·辐射测温原理 | 第14-21页 |
·基础理论 | 第14-15页 |
·热辐射的基本概念 | 第15-18页 |
·热辐射的基本定律 | 第18-21页 |
·比色测温法 | 第21-23页 |
·比色测温原理 | 第21-23页 |
·比色测温优点 | 第23页 |
·系统流程 | 第23-24页 |
·本章小结 | 第24-25页 |
第二章 系统硬件 | 第25-41页 |
·分光镜 | 第25-26页 |
·滤波片 | 第26-31页 |
·滤波片原 | 第26-27页 |
·滤波片双波长的选择 | 第27-29页 |
·滤波片最小带宽的计算 | 第29-31页 |
·CCD工作原理 | 第31-39页 |
·电荷的存储与耦合 | 第31-34页 |
·电荷的注入和检测 | 第34-35页 |
·CCD的特性参数 | 第35-37页 |
·面阵CCD摄像器件的特性 | 第37-39页 |
·本章小结 | 第39-41页 |
第三章 系统软件 | 第41-46页 |
·需求分析 | 第41-42页 |
·系统设计思想 | 第42-44页 |
·系统设计流程 | 第44-45页 |
·本章小节 | 第45-46页 |
第四章 误差分析及试验结果 | 第46-55页 |
·测量误差 | 第46-47页 |
·测量误差的基本概念 | 第46页 |
·测量误差的主要来源 | 第46-47页 |
·测量误差的分类 | 第47页 |
·系统误差分析 | 第47-50页 |
·灰度假设及滤波片带宽产生的误差 | 第47-48页 |
·虑色片、分光镜的误差分析 | 第48页 |
·CCD摄像机误差分析 | 第48-50页 |
·软件系统中的误差 | 第50页 |
·试验数据结果分析 | 第50-54页 |
·MTM滤波 | 第50-52页 |
·最小二乘法校正 | 第52-54页 |
·本章小节 | 第54-55页 |
第五章 总结 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-59页 |
致谢 | 第59-60页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第60页 |