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Al-N共掺杂实现p型ZnO的机理及其相关器件基础研究

摘要第1-8页
Abstract第8-11页
第一章 文献综述第11-34页
   ·ZnO的结构和性能第12-16页
     ·ZnO的基本性质第12-15页
     ·ZnO的光电性质第15-16页
     ·ZnO的其他性质第16页
   ·ZnO掺杂的研究进展第16-23页
     ·ZnO的n型掺杂第16-17页
     ·ZnO的p型掺杂第17-23页
   ·ZnO的缺陷第23-24页
     ·ZnO中的点缺陷第23页
     ·ZnO中的线缺陷和堆垛层错第23-24页
   ·ZnO的应用第24-31页
     ·光电器件领域应用第24-28页
     ·电子器件领域应用第28-31页
   ·本文立题依据及研究思路第31-34页
     ·立题依据第31-32页
     ·研究思路第32-34页
第二章 实验原理、过程及性能评价手段第34-44页
   ·直流反应磁控溅射技术原理第34-38页
   ·实验过程第38-41页
   ·性能评价第41-44页
第三章 C轴取向ZnO多晶薄膜生长机理第44-55页
   ·不同衬底生长择优取向的ZnO薄膜第44-47页
   ·择优取向的生长机理分析第47-53页
   ·本章小结第53-55页
第四章 Al-N共掺实现p-ZnO机理:杂质的选择第55-78页
   ·共掺杂原理及第一原理计算第55-58页
   ·影响共掺杂p-ZnO薄膜掺杂机理的几个因素第58-59页
   ·施主杂质Al对共掺杂ZnO薄膜性能的影响第59-62页
     ·施主杂质Al对薄膜结构、光学性能的影响第59-61页
     ·施主杂质Al对薄膜电学性能的影响第61-62页
   ·施主Al含量为O的情形(单一N元素掺杂)第62-65页
   ·单元素掺杂的不足之处第65-69页
   ·Al-N共掺杂方法的特色第69-75页
     ·从形成能角度分析第70-71页
     ·从电负性角度分析第71-72页
     ·从系统Madelung能量角度分析第72-73页
     ·从N受主能级的态密度角度分析第73-75页
   ·施主和受主的原子个数比例对于共掺杂p型的作用第75-76页
   ·本章小结第76-78页
第五章 Al-N共掺实现p-ZnO机理:生长温度的作用第78-95页
   ·T_s对p-ZnO薄膜结晶质量的影响第79-80页
   ·T_s对p-ZnO电学性能的影响第80-83页
   ·T_s对p-ZnO光学性能的影响第83-85页
   ·T_s对ZnO:(Al,N,H)薄膜导电类型的作用机理第85-87页
   ·T_s对ZnO:(Al,N,H)中施主-受主分步的影响第87-89页
   ·T_s对ZnO:(Al,N,H)中各元素化学键态的作用第89-93页
   ·本章小结第93-95页
第六章 Al-N共掺实现p-ZnO机理:生长气氛及其他因素的影响第95-115页
   ·氧气分压对薄膜晶体质量、光学性能的影响第96-97页
   ·电学性能随氧分压的变化机理第97-100页
   ·N受主气体源的选择第100-106页
     ·NH_3第100-102页
     ·N的氧化物第102-106页
   ·p-ZnO薄膜性能的改善:生长高温缓冲层第106-110页
   ·p-ZnO薄膜性能的改善:退火处理第110-113页
   ·p-ZnO薄膜导电类型的稳定性第113-114页
   ·本章小结第114-115页
第七章 ZnO基器件制备及其性能第115-148页
   ·ZnO基光电器件第115-128页
     ·ZnO/Si异质结及ZnO同质pn结第115-118页
     ·p-ZnO/n-ZnCdO/n-ZnO异质结的设计思路及制备第118-120页
     ·p-ZnO/n-ZnCdO/n-ZnO异质结的性能第120-128页
   ·ZnO基电子器件第128-146页
     ·设计思路第128-129页
     ·Al/Si衬底生长的ZnO薄膜的性能第129-135页
     ·光刻版的制备第135-136页
     ·n-ZnO/Au肖特基二极管的制备第136-140页
     ·n-ZnO/Au肖特基二极管的性能测试及分析第140-143页
     ·ISBD相关参数计算第143-146页
   ·本章小结第146-148页
第八章 总结第148-150页
参考文献第150-163页
致谢第163-164页
作者博士期间发表和撰写的论文及专利第164-166页

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