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光纤耦合器流变制造过程有限元分析与实验研究

第一章 序论第1-16页
 1.1 光纤耦合器的应用第7-9页
 1.2 光纤耦合器的分类第9-12页
 1.3 熔融型光纤耦合器发展现状和前景第12-14页
 1.4 光纤耦合器研究现状第14页
 1.5 课题的来源及论文的内容安排第14-16页
第二章 光纤粘弹模型和本构方程第16-33页
 2.1 玻璃态的转变过程第16-18页
  2.1.1 玻璃高温状态下的行为第16-17页
  2.1.2 假想温度第17-18页
 2.2 玻璃的弛豫理论第18-20页
  2.2.1 弛豫现象第18-19页
  2.2.2 TOOL方程第19页
  2.2.3 NARAYANASWAMY方程第19-20页
 2.3 光纤玻璃粘弹特性第20-26页
  2.3.1 弹性方程第21-22页
  2.3.2 MAXWELL广义粘弹模型第22-24页
  2.3.3 三维粘弹本构方程第24-26页
 2.4 弛豫模量函数第26-30页
  2.4.1 弛豫模量的表达式第26-27页
  2.4.2 MAXWELL弛豫模量的获得第27-30页
 2.5 温度对弛豫的影响及时温等效方程第30-31页
 2.6 本构方程的数值形式第31-32页
 2.7 小结第32-33页
第三章 光纤耦合器熔融拉锥有限元分析第33-54页
 3.1 有限元数值法第33-38页
  3.1.1 有限元解法基本步骤第33-34页
  3.1.2 力的平衡方程第34-36页
  3.1.3 几何变形方程第36页
  3.1.4 物理方程第36-37页
  3.1.5 边界条件第37-38页
 3.2 熔融拉锥工艺和光纤耦合器双锥体结构第38-39页
 3.3 模型的建立和分析第39-44页
  3.3.1 模型的简化建立第39-40页
  3.3.2 光纤耦合器预加热分析第40-44页
 3.4 热分析的结果第44-45页
 3.5 光纤耦合器拉伸分析第45-50页
 3.6 熔融拉锥过程仿真结果第50-53页
 3.7 小结第53-54页
第四章 光纤耦合器的性能测试和实验研究第54-61页
 4.1 实验设备第54-56页
  4.1.1 实验平台第54-55页
  4.1.2 光纤耦合器测试仪器第55-56页
 4.2 样品制备与测试第56-57页
  4.2.1 制备工艺第56-57页
  4.2.2 测试过程第57页
 4.3 实验结果与分析第57-60页
  4.3.1 耦合器光学性能及规律研究第58-59页
  4.3.2 光纤耦合器形貌分析第59-60页
 4.4 小结第60-61页
第五章 结论第61-62页
参考文献第62-64页
致谢第64-65页
攻读硕士学位期间的研究成果第65页

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