基于PCI总线的激光粒度测量系统的研究
摘 要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
目 录 | 第5-7页 |
第一章 绪论 | 第7-15页 |
·粒度检测的意义 | 第7页 |
·粒度测量的方法概述及光散射法的发展 | 第7-11页 |
·研究目的和背景 | 第11-14页 |
·工作内容 | 第14-15页 |
第二章 PCI数据采集系统的硬件设计 | 第15-32页 |
·激光粒度仪的测量原理 | 第15-16页 |
·系统功能及工作原理 | 第16-32页 |
第三章 以CPLD为核心的ADD-ON总线设计 | 第32-43页 |
·EDA和FPGA/CPLD的开发环境 | 第32-36页 |
·ADD-ON总线控制模块CPLD的整体设计 | 第36-43页 |
第四章 激光粒度仪数据采集系统的软件设计 | 第43-55页 |
·WINDOWS环境下的驱动程序 | 第43-45页 |
·WINDRIVER开发硬件驱动程序简介 | 第45-49页 |
·利用WINDRIVER开发硬件驱动程序 | 第49-53页 |
·对激光粒度仪测量软件包的改进 | 第53-55页 |
第五章 系统调试及实验结果 | 第55-61页 |
·改进后的激光粒度仪测量系统 | 第55-57页 |
·粒度测量实验结果 | 第57-59页 |
·与MALVERN激光粒度仪的数据对比 | 第59-61页 |
第六章 总结和展望 | 第61-62页 |
·工作总结 | 第61页 |
·对后续工作的建议 | 第61-62页 |
参考文献 | 第62-64页 |
发表论文及参加科研情况 | 第64-65页 |
附录 VHDL语言源程序 | 第65-68页 |
致 谢 | 第68页 |