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8位RISC MCU软核的设计

第一章 前言第1-24页
 1.1 集成电路设计概况第12-17页
  1.1.1 集成电路设计的发展第12-13页
  1.1.2 SoC设计第13-16页
  1.1.3 IP重用技术第16-17页
 1.2 嵌入式系统设计方法的演变第17-18页
 1.3 当前集成电路设计的流程和方法第18-21页
  1.3.1 当前集成电路设计的典型流程第19-20页
  1.3.2 集成电路设计的方法第20-21页
 1.4 课题工作内容、意义和论文结构第21-24页
  1.3.1 课题工作内容第21-22页
  1.3.2 课题工作的意义第22页
  1.3.3 论文结构第22-24页
第二章 指令系统和顶层设计第24-30页
 2.1 指令系统第24-27页
  2.1.1 指令种类第24-25页
  2.1.2 指令格式第25-26页
  2.1.3 寻址方式第26页
  2.1.4 RISC指令集和两级指令流水第26-27页
 2.2 顶层设计第27-30页
  2.2.1 顶层结构第27-28页
  2.2.2 哈佛结构第28-30页
第三章 数据通道的设计第30-42页
 3.1 内部数据总线的设计第31-32页
 3.2 存储器第32-34页
  3.2.1 程序存储器(ROM)第32-33页
  3.2.2 数据存储器(RAM)第33-34页
 3.3 指令寄存器(IR)第34-35页
 3.4 专用寄存器第35-40页
  3.4.1 状态寄存器(STATUS)第35-36页
  3.4.2 参数寄存器(OPTION)第36-37页
  3.4.3 程序计数器(PC)第37-38页
  3.4.4 堆栈寄存器(STACK)第38页
  3.4.5 间接地址寄存器(INDF)和FSR寄存器第38-39页
  3.4.6 工作寄存器(W)第39页
  3.4.7 输入/输出端口(PORTA、PORTB、PORTC、TRISA、TRISB、TRISC)第39-40页
 3.5 算术逻辑运算单元(ALU)第40-42页
第四章 时序发生器部分的设计第42-51页
 4.1 时钟的设计第42-44页
  4.1.1 多时钟系统和状态机第42页
  4.1.2 HGD08R01的多时钟系统第42-43页
  4.1.3 多时钟的设计第43-44页
 4.2 看门狗和分频器的设计第44-47页
  4.2.1 看门狗和分频器的功能第44-46页
  4.2.2 看门狗和分频器的结构第46-47页
 4.3 复位的设计第47-49页
  4.3.1 系统复位的种类和结构第47-48页
  4.3.2 系统复位后寄存器的状态第48页
  4.3.3 复位时间第48-49页
 4.4 整体时序设计第49-51页
第五章 指令译码和硬布线控制的设计第51-60页
 5.1 指令译码和硬布线控制设计的重要性第51-52页
 5.2 指令译码和硬布线控制的结构和机制第52-53页
 5.3 基于微操作的译码和控制设计第53-54页
 5.4 基于数据通道指令流程图的译码和硬布线控制设计第54-58页
  5.4.1 基于数据通道的指令流程图第54-55页
  5.4.2 指令译码的设计第55页
  5.4.3 硬布线控制的设计第55-58页
   5.4.3.1 通道控制的分析第55-56页
   5.4.3.2 通道控制的时序第56-57页
   5.4.3.3 主要的控制信号第57-58页
   5.4.3.4 控制设计的优化第58页
 5.5 小结第58-60页
第六章 Verilog HDL语言设计第60-70页
 6.1 Verilog HDL语言的特点第60-61页
  6.1.1 C语言风格第60页
  6.1.2 描述硬件的语言第60-61页
  6.1.3 各种抽象层次的描述第61页
 6.2 Verilog HDL代码设计要点及实例第61-70页
  6.2.1 组合逻辑的描述第61-63页
  6.2.2 时序逻辑的描述第63-66页
  6.2.3 可综合性问题第66页
  6.2.4 内部数据总线的描述第66-67页
  6.2.5 双向端口的描述第67-68页
  6.2.6 测试平台的编写第68-70页
第七章 HGD08R01的仿真验证第70-97页
 7.1 HGD08R01仿真验证的流程第70-75页
  7.1.1 系统仿真第71-72页
  7.1.2 RTL级仿真第72-74页
  7.1.3 门级仿真第74页
  7.1.4 硬件仿真第74-75页
 7.2 测试方案第75-79页
  7.2.1 针对不同指令进行测试验证第75-76页
  7.2.2 针对不同操作数进行的测试验证第76-77页
  7.2.3 针对不同的功能块的测试第77-79页
  7.2.4 环境因素的考虑第79页
 7.3 仿真结果的验证自动化第79-83页
  7.3.1 指令集优化的方法第79-81页
  7.3.2 标准文件法第81-83页
 7.4 FPGA验证第83-92页
  7.4.1 建立FPGA测试验证平台第84-89页
  7.4.2 FPGA验证的流程第89-91页
  7.4.3 FPGA验证结果第91-92页
 7.5 ASIC验证及实现第92-97页
  7.5.1 ASIC验证及实现的流程第92-93页
  7.5.2 ASIC综合第93-94页
  7.5.3 ASIC门级仿真第94-95页
  7.5.4 布局布线、DRC和网表比较第95-97页
第八章 总结与展望第97-99页
 8.1 论文成果总结第97页
 8.2 进一步工作的设想第97-99页
参考文献第99-101页
附录 MCU测试码点程序第101-110页

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