| 第一章 引言 | 第1-41页 |
| ·研究背景 | 第13-18页 |
| ·磁电阻效应 | 第18-27页 |
| ·正常磁电阻(Ordinary MR-OMR) | 第21-22页 |
| ·铁磁金属中的电阻率与磁电阻[116,124] | 第22-24页 |
| ·多层膜中的巨磁电阻(Giant MR-GMR) | 第24-26页 |
| ·颗粒膜中的巨磁电阻(Tunneling MR-TMR) | 第26页 |
| ·MR 值的表达式 | 第26-27页 |
| ·研究现状 | 第27-30页 |
| ·问题的提出 | 第30-33页 |
| ·研究内容 | 第33-34页 |
| 参考文献 | 第34-41页 |
| 第二章 理论基础 | 第41-81页 |
| ·隧道纳米颗粒膜中的电学输运性质 | 第41-43页 |
| ·金属态(The Metallic Regime) | 第41-42页 |
| ·过渡态(The Transition Regime) | 第42-43页 |
| ·介质态(The Dielectric Regime) | 第43页 |
| ·隧道电导 | 第43-49页 |
| ·库仑阻塞效应(Coulomb Blockade Effect) | 第44页 |
| ·荷电能(The Charge Energy) | 第44-45页 |
| ·结构原则(The Structural Effect) | 第45-46页 |
| ·隧道激活能C(Tunneling Activation Energy) | 第46-47页 |
| ·低场区(Low-field Regime) | 第47-48页 |
| ·高场状态(High-field Regime) | 第48-49页 |
| ·纳米颗粒的磁性 | 第49-56页 |
| ·单畴临界尺寸 | 第51-52页 |
| ·超顺磁性 | 第52-53页 |
| ·阻截温度(Blocking Temperature) | 第53-55页 |
| ·超顺磁临界尺寸 | 第55-56页 |
| ·隧道巨磁电阻效应的研究进展 | 第56-57页 |
| ·磁性金属中电子的自旋极化输运与双流模型 | 第57-60页 |
| ·隧道结中的自旋极化输运 | 第60-62页 |
| ·颗粒膜中的隧道磁电阻(TMR)效应 | 第62-72页 |
| ·TMR 的理论模型 | 第66-67页 |
| ·TMR 与磁化强度M 的关系 | 第67-69页 |
| ·TMR 与测量温度T 的关系 | 第69-72页 |
| ·正值磁电阻 | 第72-76页 |
| 参考文献 | 第76-81页 |
| 第三章 CO(FE)-CR_2O_3纳米颗粒薄膜的制备与测试分析 | 第81-100页 |
| ·样品的制备 | 第81-88页 |
| ·射频溅射的基本原理 | 第81-85页 |
| ·溅射条件对薄膜的影响 | 第85-86页 |
| ·射频溅射制备Co(Fe)-Cr_2O_3 隧道颗粒膜的基本过程 | 第86-88页 |
| ·样品的测量方法 | 第88-99页 |
| ·X-ray 衍射(XRD) | 第88-89页 |
| ·透射电镜(TEM)、电子衍射(ED) | 第89-90页 |
| ·X 射线能量色散谱(EDX) | 第90-91页 |
| ·X 射线光电子谱(XPS) | 第91-97页 |
| ·磁性测量 | 第97页 |
| ·薄膜厚度的测量 | 第97-98页 |
| ·磁电阻、电阻温度系数及TMR-T 曲线的测量 | 第98-99页 |
| 参考文献 | 第99-100页 |
| 第四章 CO-CR_2O_3纳米颗粒薄膜的微结构、电性、磁性及TMR 效应 | 第100-126页 |
| ·微结构 | 第100-107页 |
| ·X-Ray 衍射研究 | 第100-102页 |
| ·透射电镜(TEM)和选区电子衍射(ED)研究 | 第102-104页 |
| ·X 射线光电子谱(XPS)研究 | 第104-107页 |
| ·EDX 研究 | 第107页 |
| ·电性 | 第107-111页 |
| ·磁性 | 第111-113页 |
| ·TMR | 第113-125页 |
| ·fv 对TMR 效应的影响 | 第113-115页 |
| ·Co_0.35(Cr_2O_3)_0.65 颗粒膜的TMR 效应 | 第115-120页 |
| ·Co_0.15(Cr_2O_3)_0.85 颗粒膜的TMR 效应 | 第120-125页 |
| 参考文献 | 第125-126页 |
| 第五章 衬底温度对CO-CR_2O_3纳米颗粒薄膜TMR 效应的影响 | 第126-131页 |
| ·TS 对颗粒膜微结构的影响 | 第126-128页 |
| ·X-Ray 衍射 | 第126-127页 |
| ·TEM 研究 | 第127-128页 |
| ·TS 对颗粒膜磁性的影响 | 第128-129页 |
| ·TS 对CO-CR_2O_3 颗粒薄膜TMR 效应的影响 | 第129-130页 |
| 参考文献 | 第130-131页 |
| 第六章 FE-CR_2O_3颗粒膜的TMR 效应 | 第131-148页 |
| ·FE-CR_2O_3 颗粒膜的微结构 | 第131-136页 |
| ·X-Ray 衍射研究 | 第131-132页 |
| ·TEM 研究 | 第132-133页 |
| ·EDX 和XPS 研究 | 第133-136页 |
| ·电性研究 | 第136-138页 |
| ·磁性研究 | 第138-139页 |
| ·TMR 效应 | 第139页 |
| ·FE_0.39(CR_2O_3)_0.61 颗粒膜的TMR 和磁性 | 第139-143页 |
| ·FE_0.15(CR_2O_3)_0.85 颗粒膜的TMR 和磁性 | 第143-144页 |
| ·TS 对FE-CR_2O_3 薄膜的微结构和TMR 效应的影响 | 第144-147页 |
| ·Ts 对颗粒膜微结构的影响 | 第144-147页 |
| ·Ts 对颗粒膜磁性的影响 | 第147页 |
| ·Ts 对TMR 效应的影响 | 第147页 |
| 参考文献 | 第147-148页 |
| 第七章 结论 | 第148-152页 |
| 附录:博士在读期间已发表和完成的论文 | 第152-153页 |
| 致谢 | 第153页 |
