| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题研究的意义 | 第11-12页 |
| ·课题的来源及研究途径 | 第12-13页 |
| ·课题的国内外发展现状 | 第13-15页 |
| ·课题的研究目标 | 第15-17页 |
| 第二章 光栅位移测量技术及莫尔条纹信号细分方法研究 | 第17-29页 |
| ·光栅位移测量技术简介 | 第17-23页 |
| ·概述 | 第17-18页 |
| ·位移检测方法 | 第18页 |
| ·莫尔条纹效应原理 | 第18-20页 |
| ·光栅测量长度原理 | 第20-21页 |
| ·光栅输出信号的数学模型 | 第21-23页 |
| ·莫尔条纹细分方法 | 第23-28页 |
| ·电桥细分与电阻链细分法 | 第23-25页 |
| ·幅度分割式电子细分法 | 第25页 |
| ·载波调制法 | 第25-26页 |
| ·传统的锁相倍频细分法 | 第26-27页 |
| ·改进的锁相细分方法 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 在系统可编程技术及数字锁相环研究 | 第29-40页 |
| ·ISP技术 | 第29-34页 |
| ·概述 | 第29-30页 |
| ·ISP的应用特点及优越性 | 第30-32页 |
| ·硬件描述语言Verilog HDL | 第32-33页 |
| ·软件设计平台 | 第33-34页 |
| ·数字锁相技术 | 第34-39页 |
| ·概述 | 第34-35页 |
| ·一般构成与分类 | 第35-36页 |
| ·数字锁相环工作原理及设计方案 | 第36-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 磨床测控装置的硬件设计 | 第40-67页 |
| ·硬件总体设计 | 第40-42页 |
| ·系统总体结构 | 第40-41页 |
| ·CPU的选择 | 第41页 |
| ·PLD器件的选择 | 第41-42页 |
| ·测量放大器的设计 | 第42-44页 |
| ·乘法倍频对锁相细分方法的改进 | 第44-48页 |
| ·基本思想及原理 | 第44-45页 |
| ·乘法倍频对原始信号质量的改善 | 第45-48页 |
| ·乘法倍频后级调整电路 | 第48页 |
| ·调相电路的设计 | 第48-49页 |
| ·带通滤波器的设计 | 第49-53页 |
| ·锁相细分方法原理及相位调制中的仿真分析 | 第53-56页 |
| ·单片机控制系统 | 第56-61页 |
| ·单片机对键盘/显示器的控制 | 第57-58页 |
| ·掉电保护电路 | 第58-60页 |
| ·通讯电路 | 第60-61页 |
| ·输出控制电路 | 第61页 |
| ·ISP集成电路 | 第61-66页 |
| ·ISP对8279的管理 | 第63-64页 |
| ·分频器 | 第64-65页 |
| ·计数器模块及单片机与计数器通讯模块 | 第65-66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 第五章 磨床测控装置的软件设计 | 第67-80页 |
| ·软件总体设计 | 第67页 |
| ·内部资源分配 | 第67-68页 |
| ·主程序设计 | 第68-70页 |
| ·主要功能子程序设计 | 第70-77页 |
| ·键盘中断子程序 | 第70-71页 |
| ·掉电保护子程序 | 第71-72页 |
| ·串行中断子程序 | 第72页 |
| ·读数子程序 | 第72-73页 |
| ·运算子程序 | 第73-74页 |
| ·8279显示子程序 | 第74-75页 |
| ·自测功能子程序 | 第75-77页 |
| ·ISP程序设计 | 第77-78页 |
| ·ISP总体程序设计 | 第77页 |
| ·细分模块 | 第77页 |
| ·计数模块 | 第77-78页 |
| ·通讯模块 | 第78页 |
| ·本章小结 | 第78-80页 |
| 第六章 整机调试与误差分析 | 第80-86页 |
| ·系统调试 | 第80-82页 |
| ·误差分析 | 第82-85页 |
| ·本章小结 | 第85-86页 |
| 第七章 结论 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-90页 |
| 附录 硬件原理图 | 第90-92页 |
| 在学研究成果 | 第92-93页 |
| 致谢 | 第93页 |