裂变多参数测量系统中的中子探测器刻度
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第1章 引言 | 第7-9页 |
| ·概述 | 第7页 |
| ·裂变多参数测量系统中的中子探测器 | 第7-8页 |
| ·本论文主要内容 | 第8-9页 |
| 第2章裂 变多参数实验测量系统 | 第9-25页 |
| ·基本原理 | 第9-10页 |
| ·自发裂变源 | 第10-11页 |
| ·MCP装置 | 第11-13页 |
| ·裂变碎片质量分布的测量 | 第13-17页 |
| ·测量原理 | 第13-15页 |
| ·碎片探测器 | 第15-17页 |
| ·裂变碎片电荷分布的测量 | 第17-18页 |
| ·测量原理 | 第17页 |
| ·K-X射线探测器 | 第17-18页 |
| ·裂变瞬发中子能谱的测量 | 第18-22页 |
| ·飞行时间法 | 第19-21页 |
| ·中子探测器 | 第21-22页 |
| ·真空系统 | 第22-23页 |
| ·数据获取系统 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 中子探测器的效率刻度 | 第25-50页 |
| ·效率刻度常用方法介绍 | 第25-28页 |
| ·关联束法 | 第25-26页 |
| ·伴随粒子法 | 第26-27页 |
| ·反冲质子望远镜法 | 第27页 |
| ·~(252)Cf裂变室法 | 第27页 |
| ·双闪烁体法 | 第27-28页 |
| ·激发函数法 | 第28页 |
| ·蒙卡模拟法 | 第28页 |
| ·薄壁快脉冲裂变电离室 | 第28-34页 |
| ·基本原理 | 第29-30页 |
| ·快电离室的设计要求 | 第30-31页 |
| ·快电离室性能测试 | 第31-34页 |
| ·N-F分辨 | 第34-39页 |
| ·上升时间法 | 第35-37页 |
| ·过零时间法 | 第37-38页 |
| ·电荷比较法 | 第38-39页 |
| ·伽玛刻度和飞行时间谱道宽刻度 | 第39-41页 |
| ·伽玛刻度 | 第39-41页 |
| ·飞行时间谱道宽刻度 | 第41页 |
| ·实验安排 | 第41-43页 |
| ·实验数据的获取 | 第43-44页 |
| ·数据处理结果与分析 | 第44-49页 |
| ·中子飞行时间谱 | 第44-45页 |
| ·中子相对效率的M-C模拟 | 第45-46页 |
| ·本底扣除及实验修正 | 第46页 |
| ·实验和模拟结果的对比 | 第46-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 总结与讨论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-53页 |
| 在学期间的研究成果 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |
| 附录 | 第55-61页 |
| 1.裂变多参数测量系统电子学线路图 | 第55页 |
| 2.NEFF50模拟输入文件及说明 | 第55-56页 |
| 3.NEFF模拟计算输出文件 | 第56-61页 |
