| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-24页 |
| ·激光加工概述 | 第13页 |
| ·激光焊接技术 | 第13-16页 |
| ·激光深熔焊接光致等离子体 | 第16-18页 |
| ·等离子体的基本概念 | 第16页 |
| ·激光深熔焊接光致等离子体的产生 | 第16页 |
| ·光致等离子体对焊接过程的影响 | 第16-18页 |
| ·激光深熔焊接光致等离子体的检测方法 | 第18-19页 |
| ·激光深熔焊接等离子体特性的研究现状 | 第19-22页 |
| ·本文研究的内容及意义 | 第22-24页 |
| 第2章 等离子体光谱诊断的基本原理 | 第24-35页 |
| ·等离子体光谱检测方法概述 | 第24-25页 |
| ·光谱诊断的过程 | 第24页 |
| ·光谱分析在材料加工中的应用 | 第24-25页 |
| ·等离子体光谱诊断的理论基础 | 第25-28页 |
| ·等离子体光谱测量的热力学基础 | 第25-26页 |
| ·孔内等离子体的局部热力学平衡状态 | 第26-27页 |
| ·等离子体光谱展宽机制 | 第27-28页 |
| ·温度计算方法的比较 | 第28-30页 |
| ·谱线绝对强度法 | 第28-29页 |
| ·谱线相对强度法 | 第29-30页 |
| ·等离子体电子密度的计算 | 第30-32页 |
| ·光致等离子体吸收系数的计算 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-35页 |
| 第3章 ABEL 变换及其算法研究 | 第35-44页 |
| ·ABEL 逆变换的基本原理 | 第35-36页 |
| ·ABEL 逆变换的数值算法研究 | 第36-43页 |
| ·采用Abel 逆变换的条件 | 第36-37页 |
| ·Abel 逆变换的 Barr 方法 | 第37-38页 |
| ·Abel 逆变换的Hankel-Fourier 方法 | 第38-41页 |
| ·Abel 逆变换的Radon 变换方法 | 第41-42页 |
| ·三种算法的比较 | 第42-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 孔内等离子体光谱分析的实验研究 | 第44-58页 |
| ·试验方案总体描述 | 第44-45页 |
| ·试验器材和装备 | 第45-52页 |
| ·光源和激光器 | 第45-46页 |
| ·光谱仪 | 第46页 |
| ·面阵CCD | 第46-47页 |
| ·WinSpec/32 软件 | 第47-48页 |
| ·GG17 玻璃 | 第48-49页 |
| ·焊接材料 | 第49-50页 |
| ·光纤探测装置 | 第50页 |
| ·二维工作台 | 第50-51页 |
| ·光纤夹持装置和光阑的设计 | 第51-52页 |
| ·试验过程 | 第52-57页 |
| ·均匀试验的设计 | 第53-54页 |
| ·光谱仪的标定 | 第54-55页 |
| ·等离子体光谱的采集 | 第55-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 试验结果处理与分析 | 第58-72页 |
| ·孔内等离子体光谱 | 第58-63页 |
| ·孔内等离子体温度分布 | 第63-65页 |
| ·孔内等离子体温度和工艺参数的关系 | 第65-68页 |
| ·孔内等离子体电子密度和吸收系数 | 第68-70页 |
| ·本章小结 | 第70-72页 |
| 结论与展望 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第79-80页 |
| 附录B ABEL 逆变换部分程序 | 第80-83页 |