无线物理层认证技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 专用术语注释表 | 第9-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 嵌入水印的认证机制 | 第12页 |
| 1.2.2 基于射频指纹的认证机制 | 第12-13页 |
| 1.2.3 基于信道特征的认证机制 | 第13-14页 |
| 1.3 本文主要内容和结构 | 第14-15页 |
| 第二章 无线物理层认证基础 | 第15-30页 |
| 2.1 无线通信基础 | 第15-17页 |
| 2.2 无线信道 | 第17-23页 |
| 2.2.1 无线信道特点 | 第17-18页 |
| 2.2.2 无线信道指标 | 第18-22页 |
| 2.2.3 无线信道模型 | 第22-23页 |
| 2.3 OFDM通信技术 | 第23-25页 |
| 2.4 物理层认证 | 第25-29页 |
| 2.4.1 物理层安全问题 | 第26页 |
| 2.4.2 物理层认证原理 | 第26-27页 |
| 2.4.3 物理层认证特点 | 第27-29页 |
| 2.4.4 物理层认证类型 | 第29页 |
| 2.5 本章小结 | 第29-30页 |
| 第三章 基于信道多径时延特征的无线物理层认证 | 第30-48页 |
| 3.1 多径时延特征 | 第30-34页 |
| 3.1.1 多径信道冲激响应 | 第32页 |
| 3.1.2 多径时延变化特征 | 第32-34页 |
| 3.2 认证方案原理 | 第34-38页 |
| 3.2.1 认证基本原理 | 第35页 |
| 3.2.2 认证实现方法 | 第35-38页 |
| 3.3 认证系统设计与仿真 | 第38-42页 |
| 3.3.1 平坦衰落信道仿真模型 | 第38-40页 |
| 3.3.2 多径衰落信道仿真模型 | 第40-42页 |
| 3.4 基于多径时延特征认证的性能指标 | 第42-44页 |
| 3.5 仿真结果与分析 | 第44-47页 |
| 3.6 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 基于SVM算法的物理层认证 | 第48-64页 |
| 4.1 基于SVM算法的认证原理 | 第48-52页 |
| 4.1.1 机器学习分类问题 | 第48-49页 |
| 4.1.2 SVM分类算法原理 | 第49-51页 |
| 4.1.3 基于SVM的认证算法 | 第51-52页 |
| 4.2 基于SVM的物理层认证系统 | 第52-57页 |
| 4.2.1 基于SVM的物理层认证过程 | 第52-55页 |
| 4.2.2 基于SVM认证系统模型 | 第55-57页 |
| 4.2.3 基于SVM认证的性能指标 | 第57页 |
| 4.3 仿真结果与分析 | 第57-63页 |
| 4.3.1 基于SVM认证仿真分析 | 第58-60页 |
| 4.3.2 物理层认证方案对比分析 | 第60-63页 |
| 4.4 本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 总结与展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 附录1 攻读硕士学位期间撰写的论文 | 第69-70页 |
| 附录2 攻读硕士学位期间申请的专利 | 第70-71页 |
| 附录3 攻读硕士学位期间参加的科研项目 | 第71-72页 |
| 致谢 | 第72页 |
